Publication list of the Group of Materials in Electrical Engineering

Bitte beachten Sie, dass die Hochschulbibliographie den Datenstand 31.07.2024 hat.
Alle neueren Einträge finden Sie in der Universitätsbibliographie der Technischen Universität Ilmenau (TUUniBib).

Anzahl der Treffer: 699
Erstellt: Thu, 26 Sep 2024 16:13:08 +0200 in 0.0490 sec


Tippmann, Herbert; Breternitz, Volkmar; Knedlik, Christian; Spieß, Lothar; Schaaf, Peter; Tvarožek, Vladimír; Novotný, Ivan
Partnerschaft 1 - Institut für Werkstofftechnik, Fachgebiet Werkstoffe der Elektrotechnik (TU Ilmenau) und Institut für Elektronik und Photonik, Lehrstuhl Mikroelektronik (STU Bratislava). - In: Retrospektive 50 Jahre Zusammenarbeit Slowakische Technische Universität Bratislava - Technische Universität Ilmenau, (2015), S. 13-37

Tippmann, Herbert;
Entwicklung der Zusammenarbeit - Suche nach Gemeinsamkeiten in Lehre und Forschung. - In: Retrospektive 50 Jahre Zusammenarbeit Slowakische Technische Universität Bratislava - Technische Universität Ilmenau, (2015), S. 4-12

Tippmann, Herbert;
Ein Blick in die Historie - Zeittafel. - In: Retrospektive 50 Jahre Zusammenarbeit Slowakische Technische Universität Bratislava - Technische Universität Ilmenau, (2015), S. 1-3

Spieß, Lothar; Miersch, Helfried; Kups, Thomas;
Grundlegende Betrachtungen zur Umsetzung der EU-Richtlinie 2013/59 : "Schutz vor den Gefahren einer Exposition gegenüber ionisierender Strahlung" aus der Sicht der Ausbildung und Industrie. - Saarbrücken : Südwestdt. Verl. für Hochschulschriften, 2015. - VI, 131 S. ISBN 978-3-8381-5091-8
Literaturverz. S. 127 - 131

Katkhouda, Kamal;
Aluminum-based PVD rear-side metallization for front-junction nPERT silicon solar cells. - Ilmenau : Universitätsverlag Ilmenau, 2015. - Online-Ressource (PDF-Datei: 204 S., 28,10 MB). - (Werkstofftechnik aktuell ; 11) : Dissertation, Technische Universität Ilmenau, 2014
Parallel als Druckausg. erschienen

Diese Arbeit befasst sich mit Al-basierter physikalischer Gasphasenabscheidung als alternatives Herstellungsverfahren einer Rückseitenmetallisierung für nPERT Siliziumsolarzellen. Al-basierte Metallisierungssysteme wie Al, Al-Si-Legierung (1 at% Si) und Al-Si/Al- Schichtstapel wurden in Bezug auf Al-Spiking, spezifischem Kontaktwiderstand und Rückseitenreflexion untersucht und verglichen. Bei Verwendung einer Al-Einzelschichtmetallisierung kam es zur Bildung von Al-Spikes. Wurde eine Al-Si-Legierung aufgebracht, konnte das Al-Spiking vermieden werden, jedoch gleichzeitig mit einer Bildung von starkausgeprägten Si-Präzipitaten. Deswegen wurde ein neuer Ansatz mit einem Al-Si/Al-Schichtstapel statt Einzelschichtsystemen entwickelt. Mit diesem Ansatz und mit einer optimierten Dicke der Al-Si-Schicht konnten sowohl das Al-Spiking als auch die Si-Präzipitation deutlich reduziert werden. Der optimierte Al-Si/Al-Schichtstapel zeigte zusätzlich einen ausreichend niedrigen spezifischen Kontaktwidestand und eine hohe Rückseitenreflexion und darüber hinaus eine deutlich höhere thermische Stabilität verglichen mit dem Al-Einzelschichtmetallisierung.



https://www.db-thueringen.de/receive/dbt_mods_00025639
Tarish, Samar; Wang, Zhijie; Al-Haddad, Ahmed; Wang, Chengliang; Ispas, Adriana; Romanus, Henry; Schaaf, Peter; Lei, Yong
Synchronous formation of ZnO/ZnS core/shell nanotube arrays with removal of template for meliorating photoelectronic performance. - In: The journal of physical chemistry, ISSN 1932-7455, Bd. 119 (2015), 3, S. 1575-1582
Correction. - Bd. 119 (2015), 25, S. 14461

http://dx.doi.org/10.1021/jp510835n
Pjeviâc, Dejan; Obradoviâc, Marko; Marinkoviâc, Tijana; Grce, Ana; Milosavljeviâc, Momir; Grieseler, Rolf; Kups, Thomas; Wilke, Marcus; Schaaf, Peter
Properties of sputtered TiO2 thin films as a function of deposition and annealing parameters. - In: Physica, ISSN 1873-2135, Bd. 463 (2015), S. 20-25
Im Titel ist "2" tiefgestellt

https://doi.org/10.1016/j.physb.2015.01.037
Katkhouda, Kamal; Schubert, Daniela; Grohe, Andreas; Schaaf, Peter
Quick determination of specific contact resistance of metal-semiconductor point contacts on highly doped silicon. - In: IEEE journal of photovoltaics, ISSN 2156-3403, Bd. 5 (2015), 1, S. 299-306

https://doi.org/10.1109/JPHOTOV.2014.2362302
Höche, Daniel; Kaspar, Jörg; Schaaf, Peter;
Laser nitriding and carburization of materials. - In: Laser surface engineering, (2015), S. 33-58
Literaturverz. S. 51 - 58