Köthe, Gerhard;
Ein Beitrag zur Klärung des Elektromigrationsverhaltens Ohmscher Metall-Halbleiter-Kontakte auf Aluminiumbasis. - Ilmenau, 1989. - 4 Mikrofiches
Technische Hochschule Ilmenau, Dissertation 1989
Ein Beitrag zur Klärung des Elektromigrationsverhaltens Ohmscher Metall-Halbleiter-Kontakte auf Aluminiumbasis. - Ilmenau, 1989. - 4 Mikrofiches
Technische Hochschule Ilmenau, Dissertation 1989
Tippmann, Herbert; Knedlik, Christian; Nitzsche, Karl; Spieß, Lothar
Wolfram-Silizide für die VLSI-Mikroelektronik. - In: Wissenschaftliche Zeitschrift / Technische Hochschule Ilmenau, ISSN 0043-6917, Bd. 34 (1988), 4, S. 199-205
Wolfram-Silizide für die VLSI-Mikroelektronik. - In: Wissenschaftliche Zeitschrift / Technische Hochschule Ilmenau, ISSN 0043-6917, Bd. 34 (1988), 4, S. 199-205
Knedlik, Christian;
Schneider, Martin;
Mathematisches Modell von Kernspulen für das Tastspul-Wirbelstromverfahren. - In: Wissenschaftliche Zeitschrift / Technische Hochschule Ilmenau, ISSN 0043-6917, Bd. 34 (1988), 4, S. 175-184
Mathematisches Modell von Kernspulen für das Tastspul-Wirbelstromverfahren. - In: Wissenschaftliche Zeitschrift / Technische Hochschule Ilmenau, ISSN 0043-6917, Bd. 34 (1988), 4, S. 175-184
Tippmann, Herbert; Spieß, Lothar; Knedlik, Christian; Nitzsche, Karl; Schlöffel, Lutz; Steding, Jens; Tvarozek, Vladimir; Nowotny, Iwan; Harmann, Rudolf; Grno, J.; Breza, J.
Komplexer Analysezyklus (elektrische Messungen, Röntgenfeinstruktur, AES, RBS) zur Charakterisierung von W/Si-Sandwichanordnungen. - In: Internationales wissenschaftliches Kolloquium / Technische Hochschule Ilmenau, ISSN 0374-3365, Bd. 32 (1987), 5, S. 91-94
Komplexer Analysezyklus (elektrische Messungen, Röntgenfeinstruktur, AES, RBS) zur Charakterisierung von W/Si-Sandwichanordnungen. - In: Internationales wissenschaftliches Kolloquium / Technische Hochschule Ilmenau, ISSN 0374-3365, Bd. 32 (1987), 5, S. 91-94
Spieß, Lothar; Tippmann, Herbert; Nitzsche, Karl; Knedlik, Christian; Stedig, J.; Harmann, Rudolf; Tvarozek, Vladimir; Nowotny, Iwan
Herstellung und Charakterisierung von Wolfram-Silizium-Mischschichten unterschiedlicher Stöchiometrie. - In: Internationales wissenschaftliches Kolloquium / Technische Hochschule Ilmenau, ISSN 0374-3365, Bd. 32 (1987), 5, S. 87-89
Herstellung und Charakterisierung von Wolfram-Silizium-Mischschichten unterschiedlicher Stöchiometrie. - In: Internationales wissenschaftliches Kolloquium / Technische Hochschule Ilmenau, ISSN 0374-3365, Bd. 32 (1987), 5, S. 87-89
Spieß, Lothar;
Lippert, Gunther
Eigenschaften von MoSi2-Schichten - hergestellt mit dem Mosaiktarget. - In: Internationales wissenschaftliches Kolloquium / Technische Hochschule Ilmenau, ISSN 0374-3365, Bd. 32 (1987), 5, S. 83-85
Eigenschaften von MoSi2-Schichten - hergestellt mit dem Mosaiktarget. - In: Internationales wissenschaftliches Kolloquium / Technische Hochschule Ilmenau, ISSN 0374-3365, Bd. 32 (1987), 5, S. 83-85
Nitzsche, Karl;
Physikalische Effekte in Mikro- und Submikrometerdimensionen. - In: Internationales wissenschaftliches Kolloquium / Technische Hochschule Ilmenau, ISSN 0374-3365, Bd. 32 (1987), 5, S. 61-66
Physikalische Effekte in Mikro- und Submikrometerdimensionen. - In: Internationales wissenschaftliches Kolloquium / Technische Hochschule Ilmenau, ISSN 0374-3365, Bd. 32 (1987), 5, S. 61-66
Köthe, Gerhard;
Elektromigrationsuntersuchungen an Al- und Al/Si-Siliziumkontakten. - In: Internationales wissenschaftliches Kolloquium / Technische Hochschule Ilmenau, ISSN 0374-3365, Bd. 32 (1987), 5, S. 55-58
Elektromigrationsuntersuchungen an Al- und Al/Si-Siliziumkontakten. - In: Internationales wissenschaftliches Kolloquium / Technische Hochschule Ilmenau, ISSN 0374-3365, Bd. 32 (1987), 5, S. 55-58
Kaufmann, Thorsten; Fuchs, Gerhard; Webert, Matthias
MOCVD von ZnO-Schichten. - In: Internationales wissenschaftliches Kolloquium / Technische Hochschule Ilmenau, ISSN 0374-3365, Bd. 32 (1987), 5, S. 51-53
MOCVD von ZnO-Schichten. - In: Internationales wissenschaftliches Kolloquium / Technische Hochschule Ilmenau, ISSN 0374-3365, Bd. 32 (1987), 5, S. 51-53
Breternitz, Volkmar; Beier, Volker
Zu Werkstoffproblemen bei der Kontaktierung in der GaAs-Mikroelektronik. - In: Internationales wissenschaftliches Kolloquium / Technische Hochschule Ilmenau, ISSN 0374-3365, Bd. 32 (1987), 5, S. 23-26
Zu Werkstoffproblemen bei der Kontaktierung in der GaAs-Mikroelektronik. - In: Internationales wissenschaftliches Kolloquium / Technische Hochschule Ilmenau, ISSN 0374-3365, Bd. 32 (1987), 5, S. 23-26