Interference signal demodulation for nanopositioning and nanomeasuring machines. - In: Measurement science and technology, ISSN 1361-6501, Bd. 23 (2012), 7, S. 074004, insges. 8 S.
http://dx.doi.org/10.1088/0957-0233/23/7/074004
Recent developments and challenges of nanopositioning and nanomeasuring technology. - In: Measurement science and technology, ISSN 1361-6501, Bd. 23 (2012), 7, S. 074001, insges. 10 S.
http://dx.doi.org/10.1088/0957-0233/23/7/074001
Influence of impurities on the fixed-point temperature of zinc: estimations by the SIE method and practical limitations. - In: Measurement science and technology, ISSN 1361-6501, Bd. 23 (2012), 7, S. 074022, insges. 10 S.
This publication deals with the practical challenge of describing the impurity influence on the fixed-point temperature of zinc. For this, the sum of individual estimate (SIE) approach is applied to miniaturized fixed-point cells (MFPC) filled with high-purity zinc that can be used in industrial applications. This includes comparative analyses by glow discharge mass spectroscopy as well as mass spectroscopy with inductive coupled plasma to quantify the impurity concentrations in zinc. Furthermore, the element-specific and concentration-dependent temperature deviations are presented for the fixed-point material zinc. For this, binary phase diagrams as well as thermal calculations and experimental data were analysed to extract the relevant sensitivity coefficients. Besides, results from SIE analyses of MFPCs are presented and their uncertainties are compared. On this basis, practical limits of the SIE method are identified and discussed.
http://dx.doi.org/10.1088/0957-0233/23/7/074022
A universal noncontact flowmeter for liquids. - In: Applied physics letters, ISSN 1077-3118, Bd. 100 (2012), 19, S. 194103, insges. 4 S.
http://dx.doi.org/10.1063/1.4714899
Optische und taktile Nanosensoren auf der Grundlage des Fokusverfahrens für die Anwendung in Nanopositionier- und Nanomessmaschinen. - Ilmenau : Universitätsbibliothek Ilmenau, 2012. - Online-Ressource : Ilmenau, Technische Universität Ilmenau, Diss., 2012
Parallel als Druckausg. erschienen
Ein Nanosensorsystem auf Basis eines berührungslosen optischen Antastsensors (Basissensors), das durch eine hohe Auflösung und geringe Messunsicherheit ausgezeichnet wird, ist das Thema vorliegender Dissertation. Dieses Nanosensorsystem ist vor allem auf Messanwendungen in der Nanopositionier- und Nanomessmaschine abgestimmt. Als Basissensor für das Nanosensorsystem wurde ein neuartiger Fokussensor entwickelt. Das Funktionsprinzip dieses Sensors beruht auf die Fokusmessmethode, die für die DVD- bzw. CD-Player-Technik entwickelt wurde. Die Anbindung beider mechanischen Antastprinzipien in das Nanosensorsystem wird jeweils mittels des entwickelten Fokussensors (Basissensors) erreicht. Dabei wird die Auslenkung der antastenden Messspitze (Cantilever bzw. Stylus) direkt berührungslos mit fokussiertem Laserstrahl des Fokussensors aufgenommen. Der große Vorteil des entwickelten Nanosensorsystems besteht in dessen Modularität und Vielseitigkeit. Auf der Grundlage eines Basissensors werden optische und mechanische Antastmethoden und somit unterschiedliche Wechselwirkungen zwischen Messobjekt und Sensor vereint. Die Dissertation legt die Entwicklung und umfassende Untersuchungen des Nanosensorsystems in Kombination mit einem Digitalkameramikroskop dar. Der Schwerpunkt bildet dabei detaillierte Erläuterung des Aufbaus und Betrachtung wichtiger messtechnischen Eigenschaften des Fokussensors als Basissensors. Es werden die taktilen Sensoren des aufgebauten Nanosensorsystems vorgestellt: der Fokus-Stylus-Sensor und der Fokus-AFM-Sensor. Hierbei werden konstruktive und messtechnische Eigenschaften dieser Sensoren detailliert behandelt und verglichen. Zahlreiche praktische Anwendungen und Messergebnisse werden präsentiert.
http://www.db-thueringen.de/servlets/DocumentServlet?id=20013
Active probe control of a metrological atomic force microscopy. - In: IFAC Proceedings Volumes, ISSN 1474-6670, Bd. 44 (2011), 1, S. 3533-3538
https://doi.org/10.3182/20110828-6-IT-1002.00391
Innovative Kraftmess- und Wägetechnik durch Anwendung mechatronischer Konzepte : Schlussbericht zum InnoProfile Forschungsprojekt ; [Berichtszeitraum: 01.07.2006 bis 30.06.2011]. - Ilmenau. - Online-Ressource (94 S., 3,88 MB)Förderkennzeichen BMBF 03IP512
https://doi.org/10.2314/GBV:727073753
Interferometric measuring systems of nanopositioning and nanomeasuring machines. - In: 10th IMEKO Symposium Laser Metrology for Precision Measurement and Inspection in Industry (LMPMI) 2011, (2011), S. 343-349
Approaching nanometre accuracy in large plane mirror's profile deviation measurement. - In: Innovation in mechanical engineering - shaping the future, ISBN 978-3-86360-001-3, (2011), S. 43
Force measurement of low forces with high dead loads. - In: Innovation in mechanical engineering - shaping the future, ISBN 978-3-86360-001-3, (2011), S. 40-41