Improved homodyne laser interferometer used in micro-vibration analysis. - In: Optical test and measurement technology and equipment, 2006, S. 61502A, insges. 6 S.
Development of the interferometrical scanning probe microscope. - In: Interferometry XIII: applications, (2006), S. 629311, insges. 8 S.
Nanomeasuring and nanopositioning engineering. - In: Third International Symposium on Precision Mechanical Measurements, (2006), S. 628001, insges. 9 S.
Mehrfach-Fixpunktstrahler zur Kalibrierung von Strahlungsthermometern. - In: Temperatur 2006, (2006), S. 415-418
Mehrfach-Fixpunktstrahler zur Kalibrierung von Strahlungsthermometern. - In: Sensoren und Messsysteme 2006, (2006), S. 415-418
Verbundprojekt HOMS : Teilprojekt 1: Spezielle interferenzoptische Messsysteme für die Präzisionsfertigung ; Schlussbericht ; Laufzeit des Vorhabens vom. 01.05.2004 bis: 30.06.2006. - Ilmenau. - Online-Ressource (12 S., 487 KB)Förderkennzeichen BMBF 03 / 2913 A [falsch] - 03 I 2913 A [richtig]. - Verbund-Nr. 01031832
https://edocs.tib.eu/files/e01fb07/537676317.pdf
Messungen mit einem Pyrometer im Niedertemperaturbereich. - In: Temperatur 2006, (2006), S. 139-144
Zur Demonstration messtechnischer Eigenschaften eines Pyrometers bei statischen und dynamischen Messungen wurde eine PC-gesteuerte Messanordnung mit einem kommerziellen Schwarzen Strahler, einem vertikal angeordneten Flächenstrahler und einer Linearführung mit verstellbarer Pyrometeraufnahme aufgebaut. - Nach der Ermittlung des Messfelddiagramms mit Hilfe des Schwarzen Strahlers und einer Irisblende wird der Flächenstrahler bei optimalem Arbeitsabstand vermessen. Unter Nutzung eines Strahlerpunktes mit bekannter Temperatur werden die Emissionsgrade von neun speziellen Oberflächenbeschichtungen ermittelt. - Mit Hilfe der Linearführung kann das Pyrometer den Flächenstrahler mit verschiedenen Geschwindigkeiten scannen. Die Auswirkungen unterschiedlicher Kombinationen von Geschwindigkeit und Pyrometer-Einstellzeit auf das Scannergebnis sind experimentell nachvollziehbar.
A new vectorial model for the estimation of uncertainty in nano coordinate measuring machines. - In: IMEKO XVIII World Congress and IV Brazilian Congress of Metrology, September 17 - 22, 2006, Rio de Janeiro, Brazil, (2006), insges. 4 S.
Vektorielles metrologisches Modell zur Bestimmung der Messunsicherheit von Nanopositionier- und Nanomessmaschinen. - In: Messunsicherheit praxisgerecht bestimmen, (2006), S. 211-220
Taktile und optische Sensorsysteme für Nanomess- und Nanopositioniermaschinen. - In: Messtechnik für Mikro- und Nano-Engineering, (2006), S. 55-65