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Wang, Yung-Cheng;
Präzisionsprüfgerät für Nanomesstaster, 2003. - Online-Ressource (PDF-Datei: 118 S., 3018 KB) : Ilmenau, Techn. Univ., Diss., 2003
Parallel als Druckausg. erschienen

Aufgrund der steigenden Anforderungen an die Bearbeitungstolerenzen in der Fertigungstechnik und an die Miniaturisierung von industriellen Bauteilen gewinnt die Nanometrologie in der Fertigungsmesstechnik zunehmend an Bedeutung. Daher spielen präzise Messgeräte und -sensoren zur genauen Charaterisierung und Überprüfung der Produkte eine entscheidene Rolle. Für die eindimensionale Längenprüfung haben hochgenaue Messtaster, bzw. Nanomesstaster, die eine Auflösung im Nanometerbereich besitzen und eine Genauigkeit von weniger als 100 nm erreichen, große Bedeutung. Dazu gehören sowohl nach dem elektronischen als auch nach dem optischen Messprinzip arbeitende Messtaster, wie induktive, inkremental-optische oder interferenzoptische. Zur Gewährleistung der Genauigkeit und der Rückführbarkeit auf die Definition des Meters sind die Kalibrierung und Überprüfung der Nanomesstester unentbehrlich. Bereits existierende Prüfverfahren oder -maschinen haben diverse Nachteile. Einige erlauben nur einen manuellen Prüfvorgang, der sehr zeitaufwendig ist, wie z.B. mit hochgenauen Parallelendmaßen als Maßverkörperung. Andere weisen trotz hoher Genauigkeit nur Prüfbereiche im Mikrometerbereich auf oder besitzen in großen Prüfbereichen von einigen Millimetern nur eine Prüfunsicherheit von mehr als 100 nm. Um die Prüfung mit hoher Auflösung und gleichzeitig großem Messbereich zu ermöglichen, wurde im Rahmen dieser Arbeit auf der Grundlage eines am Institut PMS entwickelten Kalibriergerätes für Wegsensoren ein Präzisionsprüfgerät für Nanomesstaster aufgebaut, das mit 1,24 nm Auflösung, einem Prüfbereich bis 20 mm (60 mm) und einer Messunsicherheit von ca. ±10 nm die Anforderungen an hohe Auflösung im Nanometerbereich und den gleichzeitig großen Messbereich im Millimeterbereich erfüllen kann. - Das Präzisionsprüfgerät ist mit einem Planspiegelinterferometer ausgerüstet. Als neuer Ansatz zur Vermeidung des Abbe-Fehlers wird mit Hilfe von Piezotranslatoren eine kontinuierliche Winkelregelung des Messkörpers verwirklicht. Damit wird während des Prüfvorganges eine Verkippung des Messkörpers von < 0,2" erreicht und der mögliche Abbe-Fehler minimiert. Die Positionierung des Messkörpers erfolgt durch ein Antriebsystem, das sich aus Kugelführungen, einer Feingewindespindel und einem DC-Motor zusammensetzt. Zur Automatisierung des Prüfvorganges ist ein nach dem Messprinzip der Richtlinie VDI/VDE 2617 arbeitendes Messprogramm entworfen worden, mit dem ein Messtaster in elf Messpunkten und fünf Wiederholungen in weniger als 30 Minuten geprüft werden kann. - Theoretische und experimentelle Untersuchungen zeigen, dass das Präzisionsprüfgerät eine Prüfunsicherheit von ca. ±10 nm im Messbereich von 18 mm aufweist, was einer relativen Messunsicherheit von ca. ±5&hahog;10-7 entspricht.Mit der geringen Prüfunsicherheit, der Minimierung des Abbe-Fehlers und der kurzen Prüfzeit kann das Gerät als ein universelles und leistungsfähiges Präzisionsprüfgerät bezeichnet werden, das für die genauen Prüfungen von beliebigen Präzisionsmesstastern und anderen eindimensionalen Wegsensoren einsatzfähig ist.



http://www.db-thueringen.de/servlets/DocumentServlet?id=1189
Welter, Matthias
Ultrapräzise Laserkalibriersysteme für die Nanotechnologien, insbesondere für Rastersondenmikroskope : gemeinsamer Schlussbericht zum Verbundvorhaben
[Elektronische Ressource]. - Ilmenau. - Online-Ressource (73 p., 3,33 Mb.)Differences between the printed and electronic version of the document are possible. - Contract BMBF 13N7701/9 - BMBF 13N7703/0. - Joint project no. 01017679

https://edocs.tib.eu/files/e01fb04/378027913.pdf
Chen, Chao-Jung; Jäger, Gerd; Hofmann, Norbert
Entwicklung eines metrologischen Rasterkraftmikroskops :
Development of a traceable atomic force microscope. - In: Technisches Messen, ISSN 2196-7113, Bd. 69 (2002), 11, S. 483-487

https://doi.org/10.1524/teme.2002.69.11.483
Augustin, Silke; Boguhn, Dirk
Phase transformation temperatures of binary alloys in miniature fixed-point cells. - In: Proceedings, (2002), S. 699-704

Augustin, Silke; Bernhard, Frank; Boguhn, Dirk; Donin, Andrej; Mammen, Helge
Industrially applicable miniature fixed-point thermocouples. - In: Proceedings, (2002), S. 3-8

Augustin, Silke; Bernhard, Frank; Boguhn, Dirk; Donin, Andrei; Mammen, Helge
Selbstkalibrierende Thermoelemente mit integrierten Miniaturpunktzellen im Kraftwerkseinsatz. - In: Vorträge VP1, VH1 bis VH11, VM1 bis VM10, (2002), S. 161-165

Bernhard, Frank; Dorożowiec, M.; Dorożowiec, N.
Investigation of the error temperature medium determination using for the measurement three element resistance sensor. - In: Metody i technika przetwarzania sygnalów w pomiarach fizycznych, (2002), S. 9-16

Jäger, Gerd; Manske, Eberhard; Wurzbacher, Holger; Grünwald, Rainer; Büchner, Hans-Joachim; Schott, Walter; Pöschel, Wolfgang
Novel microoptical fibre coupled laser interferometers for various applications in precision engineering and nanotechnology. - In: Proceedings of the 3rd International Conference, (2002), S. 537-540

Schott, Walter; Jäger, Gerd
Miniature interferometers for precise distance measurements. - In: Proceedings of the seventeenth annual meeting, (2002), S. 67-72

Jäger, Gerd; Manske, Eberhard; Hausotte, Tino; Büchner, Hans-Joachim; Grünwald, Rainer
Nanopositioning and measuring technique. - In: Seventh International Symposium on Laser Metrology, Applied to Science, Industry, and Everyday Life, (2002), S. 240-246