Conference proceedings (congress papers, conference abstracts)

Results: 635
Created on: Sun, 30 Jun 2024 16:40:35 +0200 in 0.1165 sec


Schalles, Marc; Bernhard, Frank
Mehrfach-Fixpunktstrahler zur Kalibrierung von Strahlungsthermometern. - In: Sensoren und Messsysteme 2006, (2006), S. 415-418

Blumröder, Götz; Hilbrunner, Falko; Sievers, Rudolf; Scharfenberg, Silvio
Messungen mit einem Pyrometer im Niedertemperaturbereich. - In: Temperatur 2006, (2006), S. 139-144

Zur Demonstration messtechnischer Eigenschaften eines Pyrometers bei statischen und dynamischen Messungen wurde eine PC-gesteuerte Messanordnung mit einem kommerziellen Schwarzen Strahler, einem vertikal angeordneten Flächenstrahler und einer Linearführung mit verstellbarer Pyrometeraufnahme aufgebaut. - Nach der Ermittlung des Messfelddiagramms mit Hilfe des Schwarzen Strahlers und einer Irisblende wird der Flächenstrahler bei optimalem Arbeitsabstand vermessen. Unter Nutzung eines Strahlerpunktes mit bekannter Temperatur werden die Emissionsgrade von neun speziellen Oberflächenbeschichtungen ermittelt. - Mit Hilfe der Linearführung kann das Pyrometer den Flächenstrahler mit verschiedenen Geschwindigkeiten scannen. Die Auswirkungen unterschiedlicher Kombinationen von Geschwindigkeit und Pyrometer-Einstellzeit auf das Scannergebnis sind experimentell nachvollziehbar.



Füßl, Roland; Jäger, Gerd; Grünwald, Rainer; Schmidt, Ingomar
A new vectorial model for the estimation of uncertainty in nano coordinate measuring machines. - In: IMEKO XVIII World Congress and IV Brazilian Congress of Metrology, September 17 - 22, 2006, Rio de Janeiro, Brazil, (2006), insges. 4 S.

Füßl, Roland;
Vektorielles metrologisches Modell zur Bestimmung der Messunsicherheit von Nanopositionier- und Nanomessmaschinen. - In: Messunsicherheit praxisgerecht bestimmen, (2006), S. 211-220

Jäger, Gerd; Manske, Eberhard; Hausotte, Tino; Mastylo, Rostyslav; Dorozhovets, Natalja; Hofmann, Norbert
Taktile und optische Sensorsysteme für Nanomess- und Nanopositioniermaschinen. - In: Messtechnik für Mikro- und Nano-Engineering, (2006), S. 55-65

Schmidt, Ingomar; Jäger, Gerd; Hausotte, Tino; Manske, Eberhard; Füßl, Roland
A new traceable method for determination of periodic nonlinearities of interferometers. - In: Interferometry XIII: techniques and analysis, (2006), S. 629206, insges. 10 S.

A new traceable method has been developed and investigated to experimentally determine the total amount of measuring deviations arising through the capture and demodulation of plane-mirror interferometer signals. The basic principle for such an analysis is the precise specification of length variations. However, either a measuring system of excellent accuracy or accurately defined movements within a stable platform are required. A common measuring motion can be achieved through the displacement of a reflecting wedge plate, which creates a constant step-down. The interferometer to be analyzed is used to determine the change in the wedge plate's thickness, which is caused by lateral movements controlled by another interferometer. The wedge's sampled surfaces demand high planarity as the change of thickness acts as the material measure. These conditions can be achieved by using the Nanopositioning and Nanomeasuring Machine in conjunction with a 0.5-degree tilted mirror placed on it. The interferometer to be analyzed is aligned with this mirror. To provide the highest possible linearity for lateral motion, the only measuring points are in nearly error-free lambda/2 steps of the interferometer. The NPM machine's already small deviations in positioning will only affect the evaluation of measuring errors of the reduced interferometer by a factor of about one-hundredth. This is one of the main advantages of the method. The interferometer to be analyzed - like the entire measuring setup - features a compact assembly and high mechanical and thermal stability. The measured deviations in linearity provide excellent verification of the prospected error influences.



Augustin, Silke; Bernhard, Frank; Mammen, Helge; Krapf, Gunter; Rudtsch, Steffen; Fahr, Martin
Development of miniature fixpoint cells for specific analyses of the influence by impurities on the phase equilibrium temperatures from pure metals :
Entwicklung von Fixpunktzellen zur gezielten Untersuchung des Einflusses von Verunreinigungen auf die Phasengleichgewichtstemperaturen von Reinstmetallen. - In: Temperatur 2006, (2006), S. 317-322

An der TU Ilmenau wurden in Zusammenarbeit mit der Arbeitsgruppe "Angewandte Thermometrie" der PTB numerische Berechnungen zur Optimierung der Bauformen von Fixpunktzellen unterschiedlicher Größe durchgeführt. Diese Zellen werden eingesetzt, um den Einfluss von Verunreinigungen auf die Phasengleichgewichtstemperaturen von Reinstmetallen gezielt zu untersuchen. Es wurden Miniaturfixpunktzellen entwickelt, die zur Bestimmung der Phasengleichgewichtstemperaturen mit Mantelwiderstandsthermometern geeignet sind. Erste Modelle zur Optimierung der an der PTB verwendeten Fixpunktzellen wurden erstellt und überprüft.



Krapf, Gunter; Bernhard, Frank; Augustin, Silke; Mammen, Helge
Binary eutectic Aluminium alloys as materials for use in miniature fixed-point cells :
Binäre eutektische Aluminium-Legierungen als Materialien in miniaturisierten Fixpunktzellen. - In: Temperatur 2006, (2006), S. 257-262

Selbstkalibrierende Thermoelemente mit integrierten, miniaturisierten Fixpunktzellen ermöglichen die Messung der Heißdampftemperatur in Kraftwerken mit einer Unsicherheit <1 K. Im Bereich von 520 &ayn;C bis 610 &ayn;C kommen hierbei die binären eutektischen Aluminiumlegierungen Al87Si, Al75Pd und Al67Cu als Phasenumwandlungsmaterialien zum Einsatz. Solche selbstkalibrierende Thermoelemente wurden über einen Zeitraum von mehreren Monaten in konventionellen Kraftwerken erfolgreich einem Praxistest unterzogen. Dabei konnte eine Kalibrierunsicherheit am Fixpunkt von ±0,1 K bestätigt werden.



Dorozhovets, Nataliya; Hausotte, Tino; Hofmann, Norbert; Manske, Eberhard; Jäger, Gerd
Metrological long-range scanning probe microscope. - In: Proceedings of the 6th international conference, (2006), S. 421-424

Dorozhovets, Nataliya; Hausotte, Tino; Manske, Eberhard; Jäger, Gerd; Hofmann, Norbert
Metrological scanning probe microscope. - In: Optical micro- and nanometrology in microsystems technology, 2006, S. 61880L, insges. 8 S.