Conference proceedings (congress papers, conference abstracts)

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Created on: Sun, 30 Jun 2024 16:40:35 +0200 in 0.0879 sec


Boguhn, Dirk; Donine, Andrei; Bernhard, Frank
Kalibrierwertermittlung bei Phasenumwandlungsvorgängen in Miniatur-Fixpunkt Zellen. - In: Temperatur 2003, (2003), S. 213-218

Bernhard, Frank; Boguhn, Dirk; Augustin, Silke; Mammen, Helge; Donin, Andrei; Serres, Bernd; Höfle, Franz Anton
Einsatzerfahrungen mit selbstkalibrierenden Thermoelementen in Kraftwerken. - In: Temperatur 2003, (2003), S. 259-266

Mit integrierten Miniaturfixpunktzellen kann durch Rekalibrierung von Thermoelementen unter Betriebsbedingungen eine Messunsicherheit < 1K im Heißdampfbereich (500-650&ayn;C) von Kraftwerken bei Einsatzzeiten > 20.000h erreicht werden. Als Fixpunktmaterialien werden Reinstmetalle und binäre Legierungen verwendet. Aufbau und Wirkungsweise des Messsystems sowie Einsatzerfahrungen in verschiedenen Kraftwerken werden vorgestellt.



Jäger, Gerd; Füßl, Roland
Interference-optical force sensor for small forces. - In: Metrology in the 3rd millennium, (2003), S. 259-262

Jäger, Gerd;
Nanopositionier- und Nanomessmaschinen. - In: Metrologie in der Mikro- und Nanotechnik, (2003), S. 127-136

Büchner, Hans-Joachim; Mandryka, Victor; Jäger, Gerd; Bunte, E.; Stiebig, H.
Standing wave interferometer for length measurements. - In: Proceedings, (2003), S. 387-390

Büchner, Hans-Joachim; Bunte, E.; Mandryka, Victor; Stiebig, H.; Jäger, Gerd
Standing-wave interferometer based on partially transparent photodiodes. - In: Optical measurement systems for industrial inspection III, (2003), S. 218-226

Stiebig, H.; Büchner, Hans-Joachim; Bunte, E.; Mandryka, Victor; Knipp, D.; Jäger, Gerd
Standing wave detection by thin transparent nip diodes of amorphous silicon. - In: Thin solid films, ISSN 1879-2731, Bd. 427 (2003), 1/2, S. 152-156

http://dx.doi.org/10.1016/S0040-6090(02)01206-3
Jäger, Gerd; Manske, Eberhard; Hausotte, Tino; Füßl, Roland; Grünwald, Rainer; Büchner, Hans-Joachim; Schott, Walter; Dontsov, Denis
Miniature interferometers for applications in microtechnology and nanotechnology. - In: Recent developments in traceable dimensional measurements II, (2003), S. 185-192

Jäger, Gerd;
Übersichtsvortrag zum Sonderforschungsbereich 622 Nanopositionier- und Nanomessmaschinen. - In: Wissenschaftliches Kolloquium, (2003), S. 3-8