Nader, Richard; Pezoldt, Jörg
Quantitative evaluation of strain in epitaxial 2H-AlN layers. - In: Advances in innovative materials and applications, (2011), S. 213-216
Quantitative evaluation of strain in epitaxial 2H-AlN layers. - In: Advances in innovative materials and applications, (2011), S. 213-216
Spieß, Lothar; Morgenbrodt, Sören; Teichert, Gerd; Schaaf, Peter
Restaustenitbestimmung-vergleichende Untersuchung mit zerstörungsfreien Messmethoden. - In: DGZfP-Jahrestagung 2011 Zerstörungsfreie Materialprüfung, ISBN 978-3-940283-33-7, (2011), insges. 7 S.
Restaustenitbestimmung-vergleichende Untersuchung mit zerstörungsfreien Messmethoden. - In: DGZfP-Jahrestagung 2011 Zerstörungsfreie Materialprüfung, ISBN 978-3-940283-33-7, (2011), insges. 7 S.
Spieß, Lothar; Grieseler, Rolf; Wilke, Markus; Teichert, Gerd; Schaaf, Peter
Bestimmung von Werkstoffkenngrößen mittels der instrumentierten Eindringhärteprüfung. - In: DGZfP-Jahrestagung 2011 Zerstörungsfreie Materialprüfung, ISBN 978-3-940283-33-7, (2011), insges. 5 S.
Bestimmung von Werkstoffkenngrößen mittels der instrumentierten Eindringhärteprüfung. - In: DGZfP-Jahrestagung 2011 Zerstörungsfreie Materialprüfung, ISBN 978-3-940283-33-7, (2011), insges. 5 S.
Ispas, Adriana; Pölleth, Manuel; Hoa Tran Ba, Khanh; Bund, Andreas; Janek, Jürgen
Electrochemical deposition of silver from 1-ethyl-3-methylimidazolium trifluoromethanesulfonate. - In: Electrochimica acta, ISSN 1873-3859, Bd. 56 (2011), 28, S. 10332-10339
http://dx.doi.org/10.1016/j.electacta.2011.04.060
Electrochemical deposition of silver from 1-ethyl-3-methylimidazolium trifluoromethanesulfonate. - In: Electrochimica acta, ISSN 1873-3859, Bd. 56 (2011), 28, S. 10332-10339
http://dx.doi.org/10.1016/j.electacta.2011.04.060
Pezoldt, Jörg; Schröter, Bernd
Polarity control of CVD grown 3C-SiC on Si(111). - In: Materials science forum, ISSN 1662-9752, Bd. 679/680 (2011), S. 91-94
http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/MSF.679-680.91
Polarity control of CVD grown 3C-SiC on Si(111). - In: Materials science forum, ISSN 1662-9752, Bd. 679/680 (2011), S. 91-94
http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/MSF.679-680.91
Göckeritz, Robert; Tonisch, Katja; Jatal, Wael; Hiller, Lars; Schwierz, Frank; Pezoldt, Jörg
Side gate graphene and AlGaN/GaN unipolar nanoelectronic devices. - In: Advances in innovative materials and applications, (2011), S. 427-430
Side gate graphene and AlGaN/GaN unipolar nanoelectronic devices. - In: Advances in innovative materials and applications, (2011), S. 427-430
Pezoldt, Jörg; Kalnin, Andrei Alexandrovich
Defect interactions and polytype transitions. - In: Advances in innovative materials and applications, (2011), S. 217-220
Defect interactions and polytype transitions. - In: Advances in innovative materials and applications, (2011), S. 217-220
Goj, Boris; Dittrich, Lars; Erbe, Torsten; Hoffmann, Martin; Dumstorff, Gerrit
Entwurf und Herstellung hybrider dreiachsiger Sensormodulkonzepte. - In: Proceedings, (2011), S. 817-820
Entwurf und Herstellung hybrider dreiachsiger Sensormodulkonzepte. - In: Proceedings, (2011), S. 817-820
Müller, Lutz; Kremin, Christoph; Hoffmann, Martin
Mittels Nanostrukturierung optimierte Bimorph-Biegeaktoren großer Auslenkung. - In: Proceedings, (2011), S. 704-707
Mittels Nanostrukturierung optimierte Bimorph-Biegeaktoren großer Auslenkung. - In: Proceedings, (2011), S. 704-707
Polster, Tobias; Hoffmann, Martin; Mehner, Hannes; Oeder, Andreas; Sinzinger, Stefan
Optisch gepulste Mikroplasmaquelle für die Integration von Nanotomographie in eine Nanomessmaschine. - In: Proceedings, (2011), S. 697-700
Optisch gepulste Mikroplasmaquelle für die Integration von Nanotomographie in eine Nanomessmaschine. - In: Proceedings, (2011), S. 697-700