Hähnlein, Bernd; Tonisch, Katja; Ecke, Gernot; Grieseler, Rolf; Michael, Steffen; Schaaf, Peter; Pezoldt, Jörg
AlGaN based MEMS structures. - In: Physica status solidi, ISSN 1610-1642, Bd. 11 (2014), 2, S. 239-243
http://dx.doi.org/10.1002/pssc.201300153
AlGaN based MEMS structures. - In: Physica status solidi, ISSN 1610-1642, Bd. 11 (2014), 2, S. 239-243
http://dx.doi.org/10.1002/pssc.201300153
Grieseler, Rolf; Hähnlein, Bernd; Stubenrauch, Mike; Kups, Thomas; Wilke, Marcus; Hopfeld, Marcus; Pezoldt, Jörg; Schaaf, Peter
Nanostructured plasma etched, magnetron sputtered nanolaminar Cr 2 AlC MAX phase thin films. - In: Applied surface science, Bd. 292 (2014), S. 997-1001
http://dx.doi.org/10.1016/j.apsusc.2013.12.099
Nanostructured plasma etched, magnetron sputtered nanolaminar Cr 2 AlC MAX phase thin films. - In: Applied surface science, Bd. 292 (2014), S. 997-1001
http://dx.doi.org/10.1016/j.apsusc.2013.12.099
Händel, Benjamin; Hähnlein, Bernd; Göckeritz, Robert; Schwierz, Frank; Pezoldt, Jörg
Electrical gating and rectification in graphene three-terminal junctions. - In: Applied surface science, Bd. 291 (2014), S. 87-92
http://dx.doi.org/10.1016/j.apsusc.2013.09.066
Electrical gating and rectification in graphene three-terminal junctions. - In: Applied surface science, Bd. 291 (2014), S. 87-92
http://dx.doi.org/10.1016/j.apsusc.2013.09.066
Pezoldt, Jörg; Hähnlein, Bernd; Stubenrauch, Mike; Tonisch, Katja; Grieseler, Rolf; Vanco, Lubomir; Schaaf, Peter
Verspannungsanalyse mit Raman-Spektroskopie an MEMS aus Gruppe III-Nitriden. - In: Thüringer Werkstofftag 2013, (2013), S. 101-106
Parallel als Druckausg. erschienen
http://www.db-thueringen.de/servlets/DocumentServlet?id=22997
Verspannungsanalyse mit Raman-Spektroskopie an MEMS aus Gruppe III-Nitriden. - In: Thüringer Werkstofftag 2013, (2013), S. 101-106
Parallel als Druckausg. erschienen
http://www.db-thueringen.de/servlets/DocumentServlet?id=22997
Pezoldt, Jörg; Tonisch, Katja
FTIR-Ellipsometrie an Mischkristallen von Gruppe III-Nitriden. - In: Thüringer Werkstofftag 2013, (2013), S. 107-114
http://www.db-thueringen.de/servlets/DocumentServlet?id=22997
FTIR-Ellipsometrie an Mischkristallen von Gruppe III-Nitriden. - In: Thüringer Werkstofftag 2013, (2013), S. 107-114
http://www.db-thueringen.de/servlets/DocumentServlet?id=22997
Stauden, Thomas; Himmerlich, Marcel; Grewe, Adrian; Krischok, Stefan
Die Herstellung haftfester Metallschichten auf PMMA-Oberflächen. - In: Thüringer Werkstofftag 2013, (2013), S. 207-208
http://www.db-thueringen.de/servlets/DocumentServlet?id=22997
Die Herstellung haftfester Metallschichten auf PMMA-Oberflächen. - In: Thüringer Werkstofftag 2013, (2013), S. 207-208
http://www.db-thueringen.de/servlets/DocumentServlet?id=22997
Grieseler, Rolf; Stubenrauch, Mike; Michael, Steffen; Klaus, Jenny; Tonisch, Katja; Pezoldt, Jörg; Schaaf, Peter
Ermittlung mechanischer Eigenschaften neuer Materialien mittels freistehender Balkenstrukturen. - In: Thüringer Werkstofftag 2013, (2013), S. 209-210
http://www.db-thueringen.de/servlets/DocumentServlet?id=22997
Ermittlung mechanischer Eigenschaften neuer Materialien mittels freistehender Balkenstrukturen. - In: Thüringer Werkstofftag 2013, (2013), S. 209-210
http://www.db-thueringen.de/servlets/DocumentServlet?id=22997
Grieseler, Rolf; Stubenrauch, Mike; Michael, Steffen; Klaus, Jenny; Tonisch, Katja; Pezoldt, Jörg; Schaaf, Peter
Ermittlung mechanischer Eigenschaften neuer Materialien mittels freistehender Balkenstrukturen. - In: Thüringer Werkstofftag 2013, (2013), S. 209-210
Ermittlung mechanischer Eigenschaften neuer Materialien mittels freistehender Balkenstrukturen. - In: Thüringer Werkstofftag 2013, (2013), S. 209-210
Hiller, Lars;
AlGaN/GaN three-terminal junction devices for rectification and transistor applications on 3C-SiC/Si pseudosubstrates. - In: IEEE transactions on electron devices, ISSN 1557-9646, Bd. 60 (2013), 10, S. 3047-3052
https://doi.org/10.1109/TED.2013.2265741
AlGaN/GaN three-terminal junction devices for rectification and transistor applications on 3C-SiC/Si pseudosubstrates. - In: IEEE transactions on electron devices, ISSN 1557-9646, Bd. 60 (2013), 10, S. 3047-3052
https://doi.org/10.1109/TED.2013.2265741
Lin, En-Chiang; Fang, Jun; Park, Se-Chul; Johnson, Forrest W.; Jacobs, Heiko O.
Effective localized collection and identification of airborne species through electrodynamic precipitation and SERS-based detection. - In: Nature Communications, ISSN 2041-1723, Bd. 4 (2013), 1636, S. 1-8
https://doi.org/10.1038/ncomms2590
Effective localized collection and identification of airborne species through electrodynamic precipitation and SERS-based detection. - In: Nature Communications, ISSN 2041-1723, Bd. 4 (2013), 1636, S. 1-8
https://doi.org/10.1038/ncomms2590