Thelemann, Torsten; Thust, Heiko; Bischoff, Gernot; Kirchner, Torsten
Liquid cooled LTCC-substrates for high power applications. - In: Proceedings, (1999), S. 636-641
Liquid cooled LTCC-substrates for high power applications. - In: Proceedings, (1999), S. 636-641
Dziedzic, A.; Golonka, L. J.; Henke, M.; Kita, J.; Thust, Heiko; Drue, Karl-Heinz; Bauer, R.; Rebenklau, L.; Wolter, K.-J.
Electrical and structural characterization of thick film resistors at various LTCC systems. - In: Proceedings, (1999), S. 510-515
Electrical and structural characterization of thick film resistors at various LTCC systems. - In: Proceedings, (1999), S. 510-515
Wurmus, Helmut; Vanek, Oldrich; Hotovy, Ivan; Huran, Jozef; Rehacek, Vlastimil; Hrkut, P.
Sensing of micrograppers. - In: 44. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium, (1999), insges. 3 S.
Sensing of micrograppers. - In: 44. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium, (1999), insges. 3 S.
Bischoff, Gernot; Winkler, Gert; Tuschick, Torsten; Landeck, Hubert
Polymer thick film technology : new possibilities for the New Millennium?. - In: Proceedings, (1999), S. 131-136
Polymer thick film technology : new possibilities for the New Millennium?. - In: Proceedings, (1999), S. 131-136
Keoschkerjan, Ruben; Dressler, Lothar
Mechanische Kennwerte einer piezoelektrisch angesteuerten Bimorph-Membran. - In: 44. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium, (1999), insges. 6 S.
Mechanische Kennwerte einer piezoelektrisch angesteuerten Bimorph-Membran. - In: 44. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium, (1999), insges. 6 S.
Bartsch de Torres, Heike; Hofmann, Thomas; Kallenbach, Matthias; Wurmus, Helmut
Magnetische Schichten - Schlüssel zur Realisierung mikromechanischer Sensor- und Aktorlösungen. - In: 44. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium, (1999), insges. 6 S.
Magnetische Schichten - Schlüssel zur Realisierung mikromechanischer Sensor- und Aktorlösungen. - In: 44. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium, (1999), insges. 6 S.
Vaněk, Oldrich; Hučko, B.; Držik, M.; Breternitz, Volkmar
Silicon wafer residual stresses determination by evaluating of the dynamic response. - In: 44. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium, (1999), insges. 5 S.
Silicon wafer residual stresses determination by evaluating of the dynamic response. - In: 44. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium, (1999), insges. 5 S.
Harnisch, Alf; Feindt, Karsten; Straube, Berit; Hülsenberg, Dagmar
Mikrostrukturierungs- und Weiterverarbeitungstechnologien für fotostrukturierbare Gläser. - In: 44. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium, (1999), insges. 7 S.
Mikrostrukturierungs- und Weiterverarbeitungstechnologien für fotostrukturierbare Gläser. - In: 44. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium, (1999), insges. 7 S.
Frank, Thomas; Bartsch de Torres, Heike; Kallenbach, Matthias; Wurmus, Helmut
Mikromechanischer Schalter als SMD-Version. - In: 44. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium, (1999), insges. 6 S.
Mikromechanischer Schalter als SMD-Version. - In: 44. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium, (1999), insges. 6 S.
Boccaccini, Aldo R.; Kern, Heinrich; Pearce, David H.; Ponton, Clive B.; Janczak-Rusch, Jolanta
Fabrication and characterisation of an oxide-oxide ceramic matrix composite for high-temperature applications. - In: 44. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium, (1999), insges. 6 S.
Fabrication and characterisation of an oxide-oxide ceramic matrix composite for high-temperature applications. - In: 44. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium, (1999), insges. 6 S.