Lüdtke, Ulrich; Kelm, André; Halbedel, Bernd; Krieger, Uwe
Numerische Simulation der Strömungsbeeinflussung einer Glasschmelze mit Hilfe von Lorentzkräften. - In: Workshop Elektroprozesstechnik, (2010), 13, insges. 9 S.
Numerische Simulation der Strömungsbeeinflussung einer Glasschmelze mit Hilfe von Lorentzkräften. - In: Workshop Elektroprozesstechnik, (2010), 13, insges. 9 S.
Halbedel, Bernd; Krieger, Uwe; Geza, Vadim; Jakovics, Andris; Iser, Ronald
Elektromagnetische Strömungsbeeinflussung in einer Spezialschmelzenanlage : Prinzip, Auslegung und Ergebnisse. - In: Workshop Elektroprozesstechnik, (2010), 6, insges. 15 S.
Elektromagnetische Strömungsbeeinflussung in einer Spezialschmelzenanlage : Prinzip, Auslegung und Ergebnisse. - In: Workshop Elektroprozesstechnik, (2010), 6, insges. 15 S.
Tvarožek, Vladimír; Novotny, Ivan; Sutta, Pavol; Netrvalova, Marie; Flickyngerova, Sona; Spieß , Lothar; Schaaf, Peter
Sputtering of ZnO:Ga thin films with the inclined crystalic texture. - In: 2010 27th International Conference on Microelectronics proceedings (MIEL), ISBN 978-1-4244-7200-0, (2010), S. 177-180
http://dx.doi.org/10.1109/MIEL.2010.5490506
Sputtering of ZnO:Ga thin films with the inclined crystalic texture. - In: 2010 27th International Conference on Microelectronics proceedings (MIEL), ISBN 978-1-4244-7200-0, (2010), S. 177-180
http://dx.doi.org/10.1109/MIEL.2010.5490506
Goj, Boris;
Dittrich, Lars; Erbe, Torsten; Rosenbaum, Sören; Koch, Ina; Drüe, Karl-Heinz; Ströhla, Tom; Hoffmann, Martin
Radially magnetized permanent magnets for miniaturized low power magnetic valves. - In: Actuator 10, (2010), S. 373-377
Radially magnetized permanent magnets for miniaturized low power magnetic valves. - In: Actuator 10, (2010), S. 373-377
Hotovy, Ivan; Pezoldt, Jörg; Kadlecikova, M.; Kups, Thomas; Spieß, Lothar; Breza, Juraj; Sakalauskas, Egidius; Goldhahn, Rüdiger; Rehacek, Vlastimil
Structural characterization of sputtered indium oxide films deposited at room temperature. - In: Thin solid films, ISSN 1879-2731, Bd. 518 (2010), 16, S. 4508-4511
http://dx.doi.org/10.1016/j.tsf.2009.12.018
Structural characterization of sputtered indium oxide films deposited at room temperature. - In: Thin solid films, ISSN 1879-2731, Bd. 518 (2010), 16, S. 4508-4511
http://dx.doi.org/10.1016/j.tsf.2009.12.018
Sakalauskas, Egidijus; Schley, Pascal; Räthel, Jochen; Klar, Thomas; Müller, René; Pezoldt, Jörg; Tonisch, Katja; Grandal, J.; Sánchez-García, M. A.; Calleja, E.
Optical properties of InN grown on Si(111) substrate. - In: Physica status solidi. Applications and materials science. - Weinheim : Wiley-VCH, 2005- , ISSN: 1862-6319 , ZDB-ID: 1481091-8, ISSN 1862-6319, Bd. 207 (2010), 5, S. 1066-1069
http://dx.doi.org/10.1002/pssa.200983102
Optical properties of InN grown on Si(111) substrate. - In: Physica status solidi. Applications and materials science. - Weinheim : Wiley-VCH, 2005- , ISSN: 1862-6319 , ZDB-ID: 1481091-8, ISSN 1862-6319, Bd. 207 (2010), 5, S. 1066-1069
http://dx.doi.org/10.1002/pssa.200983102
Lilienthal, Katharina; Fischer, Michael; Stubenrauch, Mike; Schober, Andreas
Self-organized nanostructures in silicon and glass for MEMS, MOEMS and BioMEMS. - In: Materials science and engineering, ISSN 1873-4944, Bd. 169 (2010), 1/3, S. 78-84
http://dx.doi.org/10.1016/j.mseb.2009.11.020
Self-organized nanostructures in silicon and glass for MEMS, MOEMS and BioMEMS. - In: Materials science and engineering, ISSN 1873-4944, Bd. 169 (2010), 1/3, S. 78-84
http://dx.doi.org/10.1016/j.mseb.2009.11.020
Hummel, Christian; Schwierz, Frank; Hanisch, Antonia; Pezoldt, Jörg
Ambient and temperature dependent electric properties of backgate graphene transistors. - In: Physica status solidi. Basic solid state physics. - Weinheim : Wiley-VCH, [1971]- , ISSN: 1521-3951 , ZDB-ID: 1481096-7, ISSN 1521-3951, Bd. 247 (2010), 4, S. 903-906
http://dx.doi.org/10.1002/pssb.200982958
Ambient and temperature dependent electric properties of backgate graphene transistors. - In: Physica status solidi. Basic solid state physics. - Weinheim : Wiley-VCH, [1971]- , ISSN: 1521-3951 , ZDB-ID: 1481096-7, ISSN 1521-3951, Bd. 247 (2010), 4, S. 903-906
http://dx.doi.org/10.1002/pssb.200982958
Pezoldt, Jörg; Stauden, Thomas; Niebelschütz, Florentina; Alsioufy, Mohamad Adnan; Nader, Richard; Masri, Pierre M.
Tuning residual stress in 3C-SiC(100) on Si(100). - In: Materials science forum, ISSN 1662-9752, Bd. 645/648 (2010), S. 159-162
http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/MSF.645-648.159
Tuning residual stress in 3C-SiC(100) on Si(100). - In: Materials science forum, ISSN 1662-9752, Bd. 645/648 (2010), S. 159-162
http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/MSF.645-648.159
Hofer, Manuel; Stauden, Thomas; Rangelow, Ivo W.; Pezoldt, Jörg
Nanostructuring techniques for 3C-SiC(100) NEMS structures. - In: Materials science forum, ISSN 1662-9752, Bd. 645/648 (2010), S. 841-844
http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/MSF.645-648.841
Nanostructuring techniques for 3C-SiC(100) NEMS structures. - In: Materials science forum, ISSN 1662-9752, Bd. 645/648 (2010), S. 841-844
http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/MSF.645-648.841