Thust, Heiko;
Characteristics of junctions of various striplines among each other and between several levels of a multilayer structure for high-speed applications by means of selected thick-film structures. - In: Proceedings, (1991), S. 344-351
Characteristics of junctions of various striplines among each other and between several levels of a multilayer structure for high-speed applications by means of selected thick-film structures. - In: Proceedings, (1991), S. 344-351
Hülsenberg, Dagmar; Bruntsch, Ralf
Herstellung von Mikrolinsen mit den Nd-YAG-Laser. - In: Physikalische Technologien, (1990), S. 313-317
Herstellung von Mikrolinsen mit den Nd-YAG-Laser. - In: Physikalische Technologien, (1990), S. 313-317
Arnold, Heinrich;
MO-CVD und Charakterisierung von ZnO-Schichten. - In: Physikalische Technologien, (1990), S. 188-189
MO-CVD und Charakterisierung von ZnO-Schichten. - In: Physikalische Technologien, (1990), S. 188-189
Knedlik, Christian;
Komplexe Schichtmeß- und Analysentechnik. - In: Physikalische Technologien, (1990), S. 109-110
Komplexe Schichtmeß- und Analysentechnik. - In: Physikalische Technologien, (1990), S. 109-110
Scherge, Matthias; Knedlik, Christian; Breternitz, Volkmar
Simulation von Materialtransportprozessen in Leitbahn und Kontakt. - In: Internationales wissenschaftliches Kolloquium / Technische Hochschule Ilmenau, ISSN 0374-3365, Bd. 35 (1990), 5, S. 69-71
Simulation von Materialtransportprozessen in Leitbahn und Kontakt. - In: Internationales wissenschaftliches Kolloquium / Technische Hochschule Ilmenau, ISSN 0374-3365, Bd. 35 (1990), 5, S. 69-71
Müller, Klaus; Winterstein, Volker; Müller, Wolfgang; Schmidt, Udo; Weinmeister, Andreas
Zum magnetischen Verhalten galvanisch abgeschiedener senkrechtanisotroper CoNi-Speicherschichten. - In: Wissenschaftliche Zeitschrift / Technische Hochschule Ilmenau, ISSN 0043-6917, Bd. 36 (1990), 3, S. 123-142
Zum magnetischen Verhalten galvanisch abgeschiedener senkrechtanisotroper CoNi-Speicherschichten. - In: Wissenschaftliche Zeitschrift / Technische Hochschule Ilmenau, ISSN 0043-6917, Bd. 36 (1990), 3, S. 123-142
Spieß, Lothar;
Führt die Höchstintegration der Mikroelektronik zu einer Analytikkrise?. - In: Internationales wissenschaftliches Kolloquium / Technische Hochschule Ilmenau, ISSN 0374-3365, Bd. 35 (1990), 5, S. 133-136
Führt die Höchstintegration der Mikroelektronik zu einer Analytikkrise?. - In: Internationales wissenschaftliches Kolloquium / Technische Hochschule Ilmenau, ISSN 0374-3365, Bd. 35 (1990), 5, S. 133-136
Spieß, Lothar; Tvarožek, Vladimir; Novotný, I.; Gr&hacek;no, J.; Liday, Jozef; Va&hacek;nek, Oldrich
Titansilicidschichten auf Poly-Si und SiO2. - In: Internationales wissenschaftliches Kolloquium / Technische Hochschule Ilmenau, ISSN 0374-3365, Bd. 35 (1990), 5, S. 47-50
Titansilicidschichten auf Poly-Si und SiO2. - In: Internationales wissenschaftliches Kolloquium / Technische Hochschule Ilmenau, ISSN 0374-3365, Bd. 35 (1990), 5, S. 47-50
Knedlik, Christian;
Tippmann, Herbert; Hoebbel, Helmut;
Grundlagenuntersuchungen an WSi2-Schichten. - In: Internationales wissenschaftliches Kolloquium / Technische Hochschule Ilmenau, ISSN 0374-3365, Bd. 35 (1990), 5, S. 39-42
Grundlagenuntersuchungen an WSi2-Schichten. - In: Internationales wissenschaftliches Kolloquium / Technische Hochschule Ilmenau, ISSN 0374-3365, Bd. 35 (1990), 5, S. 39-42
Arnold, Heinrich; Fuchs, Gerhard; Kaufmann, Thorsten
Modellierungsgrundlagen für Wachstum und Dotierung von A(III)B(V)-Schichten aus der Gasphase (MO-VPE). - In: Internationales wissenschaftliches Kolloquium / Technische Hochschule Ilmenau, ISSN 0374-3365, Bd. 35 (1990), 4, S. 150-153
Modellierungsgrundlagen für Wachstum und Dotierung von A(III)B(V)-Schichten aus der Gasphase (MO-VPE). - In: Internationales wissenschaftliches Kolloquium / Technische Hochschule Ilmenau, ISSN 0374-3365, Bd. 35 (1990), 4, S. 150-153