Jäger, Gerd; Füßl, Roland
Interference-optical force sensor for small forces. - In: Metrology in the 3rd millennium, (2003), S. 259-262
Interference-optical force sensor for small forces. - In: Metrology in the 3rd millennium, (2003), S. 259-262
Schott, Walter; Pöschel, Wolfgang; Ecke, Susanne; Jäger, Gerd; Grünwald, Rainer; Büchner, Hans-Joachim; Manske, Eberhard; Wurzbacher, Holger
Präzision mit Laserlicht. - In: Laser + Photonik, ISSN 1610-3521, (2003), 1, S. 31-33
Präzision mit Laserlicht. - In: Laser + Photonik, ISSN 1610-3521, (2003), 1, S. 31-33
Jäger, Gerd;
Nanopositionier- und Nanomessmaschinen. - In: Metrologie in der Mikro- und Nanotechnik, (2003), S. 127-136
Nanopositionier- und Nanomessmaschinen. - In: Metrologie in der Mikro- und Nanotechnik, (2003), S. 127-136
Büchner, Hans-Joachim; Mandryka, Victor; Jäger, Gerd; Bunte, E.; Stiebig, H.
Standing wave interferometer for length measurements. - In: Proceedings, (2003), S. 387-390
Standing wave interferometer for length measurements. - In: Proceedings, (2003), S. 387-390
Büchner, Hans-Joachim; Bunte, E.; Mandryka, Victor; Stiebig, H.; Jäger, Gerd
Standing-wave interferometer based on partially transparent photodiodes. - In: Optical measurement systems for industrial inspection III, (2003), S. 218-226
Standing-wave interferometer based on partially transparent photodiodes. - In: Optical measurement systems for industrial inspection III, (2003), S. 218-226
Stiebig, H.; Büchner, Hans-Joachim; Bunte, E.; Mandryka, Victor; Knipp, D.; Jäger, Gerd
Standing wave detection by thin transparent nip diodes of amorphous silicon. - In: Thin solid films, ISSN 1879-2731, Bd. 427 (2003), 1/2, S. 152-156
http://dx.doi.org/10.1016/S0040-6090(02)01206-3
Standing wave detection by thin transparent nip diodes of amorphous silicon. - In: Thin solid films, ISSN 1879-2731, Bd. 427 (2003), 1/2, S. 152-156
http://dx.doi.org/10.1016/S0040-6090(02)01206-3
Büchner, Hans-Joachim; Stiebig, H.; Mandryka, Victor; Bunte, E.; Jäger, Gerd
An optical standing-wave interferometer for displacement measurements. - In: Measurement science and technology, ISSN 1361-6501, Bd. 14 (2003), 3, S. 311-316
http://dx.doi.org/10.1088/0957-0233/14/3/309
An optical standing-wave interferometer for displacement measurements. - In: Measurement science and technology, ISSN 1361-6501, Bd. 14 (2003), 3, S. 311-316
http://dx.doi.org/10.1088/0957-0233/14/3/309
Jäger, Gerd; Manske, Eberhard; Hausotte, Tino; Füßl, Roland; Grünwald, Rainer; Büchner, Hans-Joachim; Schott, Walter; Dontsov, Denis
Miniature interferometers for applications in microtechnology and nanotechnology. - In: Recent developments in traceable dimensional measurements II, (2003), S. 185-192
Miniature interferometers for applications in microtechnology and nanotechnology. - In: Recent developments in traceable dimensional measurements II, (2003), S. 185-192
Jäger, Gerd;
Übersichtsvortrag zum Sonderforschungsbereich 622 Nanopositionier- und Nanomessmaschinen. - In: Wissenschaftliches Kolloquium, (2003), S. 3-8
Übersichtsvortrag zum Sonderforschungsbereich 622 Nanopositionier- und Nanomessmaschinen. - In: Wissenschaftliches Kolloquium, (2003), S. 3-8
Manske, Eberhard;
Nanomess- und Positioniertechnik. - In: Wissenschaftliches Kolloquium, (2003), S. 9-15
Nanomess- und Positioniertechnik. - In: Wissenschaftliches Kolloquium, (2003), S. 9-15