Hilbrunner, Falko; Blumröder, Götz; Fröhlich, Thomas
Mathematical moisture compensation of precision measuring instruments. - In: SENSOR 2005, (2005), S. 473-477
Mathematical moisture compensation of precision measuring instruments. - In: SENSOR 2005, (2005), S. 473-477
Jäger, Gerd
Schlussbericht zum Teilvorhaben "Grundlagenuntersuchungen zu den simultanen Mehrgrößenmikrosensorsystemen für den Präzisionsmaschinenbau" innerhalb des Verbundprojektes "Simultane Mehrgrößenmikrosensorsysteme für den Präzisionsmaschinenbau" - SIMEP : Verbundforschung in der Mikrosystemtechnik. - Ilmenau. - Online-Ressource (30 S., 9,55 MB)Förderkennzeichen BMBF 16SV1495. - Verbund-Nr. 01021355. - Engl. Berichtsbl. der Printausg. u.d.T.: Group project SIMEP - partial intension: "Basic examinations of simultaneous multiparameter, microsensor systems for use in precision engineering (SIMEP)"
https://edocs.tib.eu/files/e01fb06/512421498.pdf
Schlussbericht zum Teilvorhaben "Grundlagenuntersuchungen zu den simultanen Mehrgrößenmikrosensorsystemen für den Präzisionsmaschinenbau" innerhalb des Verbundprojektes "Simultane Mehrgrößenmikrosensorsysteme für den Präzisionsmaschinenbau" - SIMEP : Verbundforschung in der Mikrosystemtechnik. - Ilmenau. - Online-Ressource (30 S., 9,55 MB)Förderkennzeichen BMBF 16SV1495. - Verbund-Nr. 01021355. - Engl. Berichtsbl. der Printausg. u.d.T.: Group project SIMEP - partial intension: "Basic examinations of simultaneous multiparameter, microsensor systems for use in precision engineering (SIMEP)"
https://edocs.tib.eu/files/e01fb06/512421498.pdf
Jäger, Gerd; Manske, Eberhard; Hausotte, Tino; Mastylo, Rostyslav; Büchner, Hans-Joachim; Grünwald, Rainer; Füßl, Roland
Integration of probe systems in a nanopositioning and nanomeasuring machine. - In: Eighth International Symposium on Laser Metrology: Macro-, Micro-, and Nano-Technologies Applied in Science, Engineering, and Industry, (2005), S. 168-172
Integration of probe systems in a nanopositioning and nanomeasuring machine. - In: Eighth International Symposium on Laser Metrology: Macro-, Micro-, and Nano-Technologies Applied in Science, Engineering, and Industry, (2005), S. 168-172
Hausotte, Tino; Jäger, Gerd; Manske, Eberhard; Hofmann, Norbert; Dorozhovets, Natalja
Application of a positioning and measuring machine for metrological long-range scanning force microscopy. - In: Advanced characterization techniques for optics, semiconductors, and nanotechnologies II, (2005), S. 587802, insges. 12 S.
Application of a positioning and measuring machine for metrological long-range scanning force microscopy. - In: Advanced characterization techniques for optics, semiconductors, and nanotechnologies II, (2005), S. 587802, insges. 12 S.
Manske, Eberhard; Hausotte, Tino; Mastylo, Rostyslav; Hofmann, Norbert; Jäger, Gerd
Nanopositioning and nanomeasuring machine for high accuracy measuring procedures of small features in large areas. - In: Optical fabrication, testing, and metrology II, (2005), S. 596509, insges. 11 S.
Nanopositioning and nanomeasuring machine for high accuracy measuring procedures of small features in large areas. - In: Optical fabrication, testing, and metrology II, (2005), S. 596509, insges. 11 S.
Jäger, Gerd; Hausotte, Tino; Manske, Eberhard; Büchner, Hans-Joachim; Mastylo, Rostyslav; Dorozhovets, Natalja; Füßl, Roland; Grünwald, Rainer
Progress on the wide scale nano-positioning- and nanomeasuring machine by integration of optical-nanoprobes. - In: Fringe 2005, (2005), S. 291-298
Progress on the wide scale nano-positioning- and nanomeasuring machine by integration of optical-nanoprobes. - In: Fringe 2005, (2005), S. 291-298
Büchner, Hans-Joachim; Jäger, Gerd
Plane mirror interferometer for precision length measurements. - In: Proceedings of the 5th international conference of the European Society for Precision Engineering and Nanotechnology, (2005), S. 45-48
Plane mirror interferometer for precision length measurements. - In: Proceedings of the 5th international conference of the European Society for Precision Engineering and Nanotechnology, (2005), S. 45-48
Welter, Matthias; Manske, Eberhard; Jäger, Gerd
Interferometrischer Sensor und interferometrisches Kalibriersystem für Ultrapräzisions-Anwendungen. - In: Technisches Messen, ISSN 2196-7113, Bd. 72 (2005), 10, S. 566-575
http://dx.doi.org/10.1524/teme.2005.72.10_2005.566
Interferometrischer Sensor und interferometrisches Kalibriersystem für Ultrapräzisions-Anwendungen. - In: Technisches Messen, ISSN 2196-7113, Bd. 72 (2005), 10, S. 566-575
http://dx.doi.org/10.1524/teme.2005.72.10_2005.566
Augustin, Silke
Selbstkalibrierende Miniaturfixpunkt-Thermometer im Kraftwerkseinsatz : Schlussbericht zum Forschungsvorhaben. - Ilmenau. - Online-Ressource (81 S., 1,90 MB)Förderkennzeichen AiF 13374 BR. - VGB-Nr. 247. - Antrags-Nr.: BR06336/01. - Literaturangaben
https://edocs.tib.eu/files/e01fn06/505769352.pdf
Selbstkalibrierende Miniaturfixpunkt-Thermometer im Kraftwerkseinsatz : Schlussbericht zum Forschungsvorhaben. - Ilmenau. - Online-Ressource (81 S., 1,90 MB)Förderkennzeichen AiF 13374 BR. - VGB-Nr. 247. - Antrags-Nr.: BR06336/01. - Literaturangaben
https://edocs.tib.eu/files/e01fn06/505769352.pdf
Jäger, Gerd; Hausotte, Tino; Manske, Eberhard; Büchner, Hans-Joachim; Mastylo, Rostyslav; Grünwald, Rainer
Nanomesssysteme für Nanopositioniersysteme. - In: Mechanical engineering from macro to nano, (2005), S. 17-18
Nanomesssysteme für Nanopositioniersysteme. - In: Mechanical engineering from macro to nano, (2005), S. 17-18