Tagungsbeiträge

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Halbedel, Bernd; Krieger, Uwe; Lüdtke, Ulrich; Hülsenberg, Dagmar; Thess, André
Generation and influences of Lorentz and magnetic interfacial forces on black glass melts from the BaO - B2O3 - Fe2O3-SiO2 system. - In: Proceedings, Asia-Euro Workshop on Electromagnetic Processing of Materials, (2004), S. 61-67

Sievert, Carsten; Resagk, Christian; Men, Shouqiang; Schmidt, Udo; Ziolkowski, Marek; Brauer, Hartmut
Measurement of interface deformation and magnetic field at a conducting two-fluid system. - In: Proceedings, Asia-Euro Workshop on Electromagnetic Processing of Materials, (2004), S. 41-43

Kallenbach, Matthias; Beljajev, N.; Kallenbach, Eberhard; Saffert, Eugen
Fast acting magnetic drives for automotive applications. - In: Actuator 2004, (2004), S. 735-738

Albracht, Frank; Kern, Heinrich; Reichel, Susen; Winkler, Volker
Untersuchung von Einflussfaktoren auf das tribologische Verhalten von Werkstoffen gegen Eis. - In: Sporttechnologie zwischen Theorie und Praxis III, (2004), S. 143-154

Winkler, Volker; Albracht, Frank; Reichel, Susen; Kern, Heinrich
Über die Einflussfaktoren der Reibung auf Eis. - In: Reibung, Schmierung und Verschleiß, (2004), insges. 9 S.

Romanus, Henry; Romankiewicz, Katja; Schwenke, B.; Breternitz, Volkmar; Knedlik, Christian; Teichert, Gerd
Untersuchungen zu Nickel-Zink-Ferrit-Schichten auf Kupferfolien für Leiterplatten. - In: Thüringer Werkstofftag 2004, (2004), S. 125-130

Cimalla, Volker; Spieß, Lothar; Romanus, Henry; Ambacher, Oliver
Lateralkraftmikroskopie an elektrischen Kontakten. - In: Thüringer Werkstofftag 2004, (2004), S. 203-211

Kups, Thomas; Kaiser, Ute
On the site occupancy of dopants in 4H-SiC. - In: Thüringer Werkstofftag 2004, (2004), S. 199-202

Biskupek, Johannes; Kaiser, Ute; Chuvilin, Andrey
Understanding the contrast of HRTEM-images of interstitial loops in SiC introduced by foreign ion implantation - a molecular dynamics study. - In: Thüringer Werkstofftag 2004, (2004), S. 195-197

Chuvilin, Andrey; Kups, Thomas; Kaiser, Ute
Lattice parameter measurment by CBED: accuracy limited by the noise. - In: Thüringer Werkstofftag 2004, (2004), S. 193-194