Tagungsbeiträge

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Harnisch, Alf; Feindt, Karsten; Ehrhardt, Anja; Baumgart, Heike; Hülsenberg, Dagmar; Kallenbach, Eberhard
Microstructurable glasses, structuring technologies, special joining techniques and applications for microactuators. - In: Actuator 98, (1998), S. 66-69

Heim, Ulf; Albrecht, Arne; Klöpzig, Markus
High speed polygon scanner. - In: Actuator 98, (1998), S. 58-61

Knedlik, Christian; Spieß, Lothar
Werkstoffe und Analytik für die Mikroelektronik aus der Sicht der Metallisierung und Kontaktierung. - In: 43. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium, (1998), insges. 6 S.

Schenk, Andre; Rainova, Yu. P.; Pezoldt, Jörg
Simulation von Strömungsprozessen in einem RTP-Reaktor. - In: 43. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium, (1998), insges. 8 S.

Hofmann, Thomas; Schmidt, Cordt;
Untersuchung zum Einfluß von Pulse-Plating auf die elektrolytische Abscheidung von Kupfer. - In: 43. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium, (1998), insges. 6 S.

Heider, Thomas; Nolin, Suzanne; Rother, Wolfgang; Nutsch, Gabriele
Innovative Oberflächenmodifikation mit dem Remote-Plasma einer Barriereentladung. - In: 43. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium, (1998), insges. 6 S.

Schwanbeck, Heike; Schmidt, Udo; Winterstein, Volker; Müller, Klaus
Galvanische Abscheidung von Cobalt-Legierungsschichten für magnetische Längen- und Winkelmeßsysteme. - In: 43. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium, (1998), insges. 6 S.

Breiter, Manuela; Nutsch, Gabriele
Einfluß der Prozeßparameter bei der Diamantsynthese mit einem DC-Plasmastrahl. - In: 43. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium, (1998), insges. 6 S.

Schmidt, Cordt; Karagodin, Pawel; Erler, Frank; Mache, Thomas
Betrachtungen über Wechselbeziehungen zwischen Morphologie der Oberfläche, Gefüge und Textur von elektrolytisch abgeschiedenen Metallschichten. - In: 43. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium, (1998), insges. 6 S.

Vaněk, Oldrich; Harmatha, L.; Stuchlíková, L.; Tippmann, Herbert; Janiček, J.
Nickel thin film resistance sensors for measurement of very low temperatures. - In: 43. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium, (1998), insges. 4 S.