Tagungsbeiträge

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Shokhovets, Sviatoslav; Goldhahn, Rüdiger; Cimalla, Volker; Cheng, T. S.; Foxon, C. Thomas
Analysis of reflectivity measurements for GaN films grown on GaAs: influence of surface roughness and interface layers. - In: Silicon carbide, III-nitrides and related materials, (1998), S. 1347-1350

Halbedel, Bernd;
Elektromechanische Autogenmahlung. - In: Partikeltechnologie, (1998), S. 103-117

Die Ergebnisse der Analyse des elektromechanischen Leistungsumsatzes zeigen, daß die halbempirische Methode über elektrische und mechanische Leerlaufversuche sowie numerische Fassung der Zusammenhänge mit physikalisch begründeten Approximationsbeziehungen geeignet ist, die Luftspaltleistung Pd - als die im Prozeßraum verfügbare Leistung zu bestimmen und - in Abhängigkeit von wesentlichen Einflußgrößen (Hd, f, jFP, dFP) zu beschreiben. Dieses elektrischeъ Vorgehen ermöglicht eine Voroptimierung der Prozeßparameter ohne Zerkleinerungsversuche. Des weiteren liegt damit ein wesentlicher Beitrag zur Gesamtauslegung von elektromechanischen Aufbereitungsanlagen vor. Die Modellteile, die einerseits die auslegungstechnische Realisierung der erforderlichen Luftspaltleistung gewährleisten und andererseits den Leistungsanteil fixieren, der zerkleinerungswirksam wird, müssen sich hier anschließen. Die Beurteilung der Güte des elektromechanischen Leistungsumsatzes verdeutlicht den Zwang zur Senkung der Ummagnetisierungsverluste durch Einsatz von Ringspaltkammermaterialien mit höherem spezifischem elektrischem Widerstand zur Wirkungsgraderhöhung und Nutzung des vorteilhaften Betriebs bei höheren Frequenzen. Bei den diskontinuierlichen Versuchen zur elektromechanischen Autogenzerkleinerung hat sich herausgestellt, daß gesinterte Hartferritpellets 1) elektromechanisch feinstzerkleinert werden können und - die elektromechanische Feinstzerkleinerung 2) in einem einstufigen Prozeß möglich ist. Die Analyse des Zerkleinerungsverhalten zeigt weiterhin, daß bei der elektromechanischen Autogenmahlung von Hartferriten eine Partikelgrößenlücke entsteht. Sie ist zur Abtrennung/Abführung der entstehenden Feinanteile vorteilhaft. Die Feinanteile resultieren hauptsächlich aus Abrasionsvorgängen. Insgesamt stützen die vorliegenden Ergebnisse die eingangs injizierte Erwartung, daß das elektromechanische Autogenmahlprinzip für die Zerkleinerung hartmagnetischer Materialien insbesondere aus energiewirtschaftlichen Aspekten eine echte Alternative zu den derzeit benutzten Zerkleinerungstechniken darstellt.



Dziurdzia, Barbara; Nowak, Stanislaw; Gregorczyk, Wojciech; Polzer, Erich; Thust, Heiko; Frisch, Thomas
Fodel silver conductor 4065/1-tests, problems, achievements. - In: Proceedings of the 21-st Conference of the International Society for Hybrid Microelectronics, Poland Chapter, (1998), S. 129-132

Thust, Heiko;
New possibilities for 3D-integration using multilayer LTCC-technology. - In: Proceedings of the EMIT '98, (1998), S. 52-58

Rainova, Yu. P.; Antonenko, K. I.; Pezoldt, Jörg; Schenk, André; Eichhorn, Gerd
Holographic interferometry of temperature distribution in a RTP reactor. - In: Chemical vapor deposition, (1997), S. 717-724

Schwesinger, Norbert; Albrecht, Arne
Wet chemical isotropic etching procedures of silicon: a possibility for the production of deep structured microcomponents. - In: Micromachining and microfabrication process technology III, (1997), S. 72-79

Kern, Heinrich; Winkler, Volker; Boccaccini, Aldo R.
Fabrication and mechanical properties of glass matrix composites with different fibre architectures. - In: Fatigue, fracture and ceramic matrix composites, (1997), S. 593-602

Pezoldt, Jörg; Cimalla, Volker; Stauden, Thomas; Ecke, Gernot; Eichhorn, Gerd; Scharmann, Friedhelm; Schipanski, Dagmar
Chemical conversion of Si to SiC by solid source MBE and RTCVD. - In: Diamond and related materials, ISSN 0925-9635, Bd. 6 (1997), 10, S. 1311-1315

https://doi.org/10.1016/S0925-9635(97)00087-3
Ecke, Gernot; Rößler, Hans; Cimalla, Volker; Liday, Jozef
AES depth profiles of thin SiC-layers - simulation of ion beam induced mixing. - In: Fresenius' journal of analytical chemistry, ISSN 1432-1130, Bd. 358 (1997), 1, S. 355-357

http://dx.doi.org/10.1007/s002160050428
Winkler, Marion;
Untersuchungen zur elektrochemischen Abscheidung von Zwischenschichten für den Feinguß von Titan. - In: Kurzfassungen der Vorträge, (1997), S. 67-69