Tagungsbeiträge

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Niebelschütz, Florentina; Zhao, Wei Hong; Brückner, Klemens; Tonisch, Katja; Linß, Matthias; Hein, Matthias A.; Pezoldt, Jörg
Property modification of 3C-SiC MEMS on Ge-modified Si(100) substrates. - In: Materials science forum, ISSN 1662-9752, Bd. 645/648 (2010), S. 861-864

http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/MSF.645-648.861
Goj, Boris; Dittrich, Lars; Erbe, Torsten; Rosenbaum, Sören; Hoffmann, Martin
High precision test device for calibration of miniaturized three-dimensional magnetic sensors. - In: Mechanika, (2010), S. 166-171

Fischer, Michael; Bartsch, Heike; Pawlowski, B.; Barth, S.; Hoffmann, Martin; Müller, Jens
SiCer - ein innovativer Substratwerkstoff für MEMS. - In: Thüringer Werkstofftag 2010, (2010), S. 6

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Brokmann, Ulrike; Raab, Dagmar; Rädlein, Edda; Schiermeyer, Susanne; Meyer, K.-H.
UV-transparente Anti-Schmutz-Funktionalisierung von Quarzglasrohroberflächen. - In: Thüringer Werkstofftag 2010, (2010), S. 71-74

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Brokmann, Ulrike; Raab, Dagmar; Tünker, G.; Rädlein, Edda
Vergleich von Korrosionstests für Glasemails in Architekturanwendungen. - In: Thüringer Werkstofftag 2010, (2010), S. 75-78

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Mache, Thomas; Jakob, Christine; Dittrich, Lars; Hoffmann, Martin
Batch-taugliche Fertigungsansätze für funktionenintegrierende feinwerktechnische Systemkomponenten mit maßgeschneiderten Eigenschaften. - In: Thüringer Werkstofftag 2010, (2010), S. 79-84
Parallel als Druckausg. erschienen

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Tonisch, Katja; Niebelschütz, Florentina; Brückner, Klemens; Buchheim, Carsten; Goldhahn, Rüdiger; Cimalla, Volker; Ambacher, Oliver; Hein, Matthias
Piezoelektrisch angeregte MEMS aus epitaktischen AlGaN/GaN-Heterostrukturen. - In: Thüringer Werkstofftag 2010, (2010), S. 85-90
Parallel als Druckausg. erschienen

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Göckeritz, Robert; Koch, Roland; Himmerlich, Marcel; Endlich, Michael; Hummel, Christian; Alsioufy, Mohamad Adnan; Krischok, Stefan; Schäfer, Jürgen A.; Schwierz, Frank; Pezoldt, Jörg
Graphenprozessierung für Transistoren: materialanalytische Fragestellungen. - In: Thüringer Werkstofftag 2010, (2010), S. 91-98

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