Stühn, Bernd
Materialuntersuchungen: Struktur und Mechanismen der Strukturbildung in Multiskalensystemen : Laufzeit: 1.4.2001 - 30.6.2004. - Ilmenau. - Online-Ressource (10 S., 116 KB)Förderkennzeichen BMBF 03STE3IL. - Literaturverz. - Engl. Titel: Structure and mechanisms of structure formation in multiscale systems
https://edocs.tib.eu/files/e01fb05/502069201.pdf
Materialuntersuchungen: Struktur und Mechanismen der Strukturbildung in Multiskalensystemen : Laufzeit: 1.4.2001 - 30.6.2004. - Ilmenau. - Online-Ressource (10 S., 116 KB)Förderkennzeichen BMBF 03STE3IL. - Literaturverz. - Engl. Titel: Structure and mechanisms of structure formation in multiscale systems
https://edocs.tib.eu/files/e01fb05/502069201.pdf
Hild, Wolfram; Hungenbach, Gudrun; Liu, Yonghe; Schaefer, Jürgen A.; Gubisch, Maik; Scherge, Matthias
Einfluss der Korngröße auf die tribologischen Eigenschaften und das Einlaufverhalten von gesputterten Chromschichten. - In: Reibung, Schmierung und Verschleiß, (2004), insges. 10 S.
Einfluss der Korngröße auf die tribologischen Eigenschaften und das Einlaufverhalten von gesputterten Chromschichten. - In: Reibung, Schmierung und Verschleiß, (2004), insges. 10 S.
Kirner, Thomas; Jaschinsky, Philipp; Köhler, Michael J.
Spatially resolved detection of miniaturized reaction-diffusion experiments in chip reactors for educational purposes. - In: The chemical engineering journal, ISSN 1873-3212, Bd. 101 (2004), 1/3, S. 163-169
http://dx.doi.org/10.1016/j.cej.2003.11.026
Spatially resolved detection of miniaturized reaction-diffusion experiments in chip reactors for educational purposes. - In: The chemical engineering journal, ISSN 1873-3212, Bd. 101 (2004), 1/3, S. 163-169
http://dx.doi.org/10.1016/j.cej.2003.11.026
Gubisch, Maik; Liu, Yonghe; Spieß, Lothar; Romanus, Henry; Knedlik, Christian
Nanoschichten für die Nanopositionierung. - In: Thüringer Werkstofftag 2004, (2004), S. 131-136
Nanoschichten für die Nanopositionierung. - In: Thüringer Werkstofftag 2004, (2004), S. 131-136
Erb, Tobias; Raleva, Sofiya; Zhokhavets, Uladzimir; Gobsch, Gerhard; Stühn, Bernd; Spode, Matthias; Ambacher, Oliver
Structural and optical properties of both pure poly(3-octylthiophene) (P3OT) and P3OT/fullerene films. - In: Thin solid films, ISSN 1879-2731, Bd. 450 (2004), 1, S. 97-100
http://dx.doi.org/10.1016/j.tsf.2003.10.045
Structural and optical properties of both pure poly(3-octylthiophene) (P3OT) and P3OT/fullerene films. - In: Thin solid films, ISSN 1879-2731, Bd. 450 (2004), 1, S. 97-100
http://dx.doi.org/10.1016/j.tsf.2003.10.045
Bechstedt, Friedhelm; Furthmüller, Jürgen; Ambacher, Oliver; Goldhahn, Rüdiger
Comment on "Mie resonances, infrared emission, and the band gap of InN". - In: Physical review letters, ISSN 1079-7114, Bd. 93 (2004), 26, 269701, insges. 1 S.
https://doi.org/10.1103/PhysRevLett.93.269701
Comment on "Mie resonances, infrared emission, and the band gap of InN". - In: Physical review letters, ISSN 1079-7114, Bd. 93 (2004), 26, 269701, insges. 1 S.
https://doi.org/10.1103/PhysRevLett.93.269701
Krischok, Stefan; Yanev, Vasil; Balykov, Oleg; Himmerlich, Marcel; Schäfer, Jürgen A.; Kosiba, Rastislav; Ecke, Gernot; Cimalla, Irina Nicoleta; Cimalla, Volker; Ambacher, Oliver; Lu, Hai; Schaff, William J.; Eastman, Lester F.
Investigations of MBE grown InN and the influence of sputtering on the surface composition. - In: Surface science, ISSN 1879-2758, Bd. 566/568 (2004), 2, S. 849-855
http://dx.doi.org/10.1016/j.susc.2004.06.020
Investigations of MBE grown InN and the influence of sputtering on the surface composition. - In: Surface science, ISSN 1879-2758, Bd. 566/568 (2004), 2, S. 849-855
http://dx.doi.org/10.1016/j.susc.2004.06.020
Kosiba, Rastislav; Ecke, Gernot; Cimalla, Volker; Spieß, Lothar; Krischok, Stefan; Schäfer, Jürgen A.; Ambacher, Oliver; Schaff, William J.
Sputter depth profiling of InN layers. - In: Nuclear instruments & methods in physics research, Bd. 215 (2004), 3/4, S. 486-494
http://dx.doi.org/10.1016/j.nimb.2003.08.039
Sputter depth profiling of InN layers. - In: Nuclear instruments & methods in physics research, Bd. 215 (2004), 3/4, S. 486-494
http://dx.doi.org/10.1016/j.nimb.2003.08.039
Blankenhagen, Carsten; Böhm, Walter; Gall, Dietrich; Hartung, Gerd; Schäfer, Jürgen A.; Sommer, Jürgen
Heiße Wendelelektroden in modifizierten Entladungslampen. - In: Licht, ISSN 0024-2861, Bd. 56 (2004), 5, S. 537-539
Heiße Wendelelektroden in modifizierten Entladungslampen. - In: Licht, ISSN 0024-2861, Bd. 56 (2004), 5, S. 537-539
Sedlacik, Jan; Rauscher, A.; Maaß, Philipp; Reichenbach, Jürgen R.
Multi echo susceptibility weighted imaging (SWI) - phantom and in vivo measurements. - In: Beiträge zur 38. Jahrestagung der Deutschen Gesellschaft für Biomedizinische Technik im VDE - BMT 2004, 22 -24 September 2004, TU Ilmenau, (2004), S. 148-149
Multi echo susceptibility weighted imaging (SWI) - phantom and in vivo measurements. - In: Beiträge zur 38. Jahrestagung der Deutschen Gesellschaft für Biomedizinische Technik im VDE - BMT 2004, 22 -24 September 2004, TU Ilmenau, (2004), S. 148-149