Morales, Francisco M.; Zgheib, Charbel; Molina, Sergio I.; Araújo, Daniel; García, Rafael; Fernández, C.; Sanz-Hervás, A.; Masri, Pierre; Weih, Petia; Stauden, Thomas
The role of Ge predeposition temperature in the MBE epitaxy of SiC on silicon. - In: Physica status solidi, ISSN 1610-1642, Bd. 1 (2004), 2, S. 341-346
http://dx.doi.org/10.1002/pssc.200303940
The role of Ge predeposition temperature in the MBE epitaxy of SiC on silicon. - In: Physica status solidi, ISSN 1610-1642, Bd. 1 (2004), 2, S. 341-346
http://dx.doi.org/10.1002/pssc.200303940
Weih, Petia; Cimalla, Volker; Stauden, Thomas; Kosiba, Rastislav; Ecke, Gernot; Spieß, Lothar; Romanus, Henry; Gubisch, Maik; Bock, W.; Freitag, Th.
3C-SiC:Ge alloys grown on Si (111) substrates by SSMBE. - In: Physica status solidi, ISSN 1610-1642, Bd. 1 (2004), 2, S. 347-350
http://dx.doi.org/10.1002/pssc.200303953
3C-SiC:Ge alloys grown on Si (111) substrates by SSMBE. - In: Physica status solidi, ISSN 1610-1642, Bd. 1 (2004), 2, S. 347-350
http://dx.doi.org/10.1002/pssc.200303953
Ambacher, Oliver;
GaN-based sensors for applications in nano- and picofluidic systems. - In: Abstracts, (2004), insges. 1 S.
GaN-based sensors for applications in nano- and picofluidic systems. - In: Abstracts, (2004), insges. 1 S.
Schober, Andreas; Kittler, Gabriel; Buchheim, Carsten; Majdeddin, Ali; Cimalla, Volker; Fischer, Michael; Yanev, Vasil; Himmerlich, Marcel; Krischok, Stefan; Schäfer, Jürgen A.; Romanus, Henry; Sändig, Torsten; Burgold, Jörg; Weise, Frank; Wurmus, Helmut; Drüe, Karl-Heinz; Hintz, Michael; Thust, Heiko; Gessner, Jörg; Kittler, Mario; Schwierz, Frank; Doll, Theodor; Manske, Eberhard; Mastylo, Rostyslav; Jäger, Gerd; Knedlik, Christian; Winkler, Gerd; Kern, Heinrich; Hoffmann, R.; Spieß, Lothar; Spitznas, Armin; Gottwald, Eric; Weibezahn, Karl-Friedrich; Wegener, Dennis; Schwienhorst, Andreas; Ambacher, Oliver
A novel class of sensors for system integrative concepts in biotechnological applications. - In: Technische Systeme für Biotechnologie und Umwelt, (2004), S. 163-169
A novel class of sensors for system integrative concepts in biotechnological applications. - In: Technische Systeme für Biotechnologie und Umwelt, (2004), S. 163-169
Goldhahn, Rüdiger; Winzer, Andreas T.; Cimalla, Volker; Ambacher, Oliver; Cobet, Christoph; Richter, Wolfgang; Esser, Norbert; Furthmüller, Jürgen; Bechstedt, Friedhelm; Lu, Hai; Schaff, William J.
Anisotropy of the dielectric function for wurtzite InN. - In: Superlattices and microstructures, ISSN 1096-3677, Bd. 36 (2004), 4/6, S. 591-597
http://dx.doi.org/10.1016/j.spmi.2004.09.016
Anisotropy of the dielectric function for wurtzite InN. - In: Superlattices and microstructures, ISSN 1096-3677, Bd. 36 (2004), 4/6, S. 591-597
http://dx.doi.org/10.1016/j.spmi.2004.09.016
Cimalla, Volker; Spieß, Lothar; Romanus, Henry; Ambacher, Oliver
Lateralkraftmikroskopie an elektrischen Kontakten. - In: Thüringer Werkstofftag 2004, (2004), S. 203-211
Lateralkraftmikroskopie an elektrischen Kontakten. - In: Thüringer Werkstofftag 2004, (2004), S. 203-211
Förster, Christian; Cimalla, Volker; Kerekes, Tibor; Ecke, Gernot; Ambacher, Oliver; Pezoldt, Jörg
Ionenstrahlätzen von Siliziumkarbid. - In: Thüringer Werkstofftag 2004, (2004), S. 185-190
Ionenstrahlätzen von Siliziumkarbid. - In: Thüringer Werkstofftag 2004, (2004), S. 185-190
Cimalla, Volker; Spieß, Lothar; Gubisch, Maik; Hotovy, Ivan; Romanus, Henry; Ambacher, Oliver
Analyse nanokristalliner Schichten auf rauen Substraten. - In: Thüringer Werkstofftag 2004, (2004), S. 177-183
Analyse nanokristalliner Schichten auf rauen Substraten. - In: Thüringer Werkstofftag 2004, (2004), S. 177-183
Pezoldt, Jörg; Kalnin, Andrei Alexandrovich
Strukturselektion in multivariablen Kristallen. - In: Thüringer Werkstofftag 2004, (2004), S. 167-175
Strukturselektion in multivariablen Kristallen. - In: Thüringer Werkstofftag 2004, (2004), S. 167-175
Pezoldt, Jörg; Wang, Chunyu
Infrarotellipsometrie ein Verfahren für die Materialcharakterisierung. - In: Thüringer Werkstofftag 2004, (2004), S. 159-165
Infrarotellipsometrie ein Verfahren für die Materialcharakterisierung. - In: Thüringer Werkstofftag 2004, (2004), S. 159-165