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Scherge, Matthias; Gorb, Stanislav N.
Microtribology of biological materials. - In: Tribology letters, ISSN 1573-2711, Bd. 8 (2000), 1, S. 1-7

http://dx.doi.org/10.1023/A:1019158428645
Scherge, Matthias; Gorb, Stanislav N.
Using biological principles to design MEMS. - In: Journal of micromechanics and microengineering, ISSN 1361-6439, Bd. 10 (2000), 3, S. 359-364

http://dx.doi.org/10.1088/0960-1317/10/3/309
Romanus, Henry; Cimalla, Volker; Schäfer, Jürgen A.; Spieß, Lothar; Ecke, Gernot; Pezoldt, Jörg
Preparation of single phase tungsten carbide by annealing of sputtered tungsten-carbon layers. - In: Thin solid films, ISSN 1879-2731, Bd. 359 (2000), 2, S. 146-149

http://dx.doi.org/10.1016/S0040-6090(99)00732-4
Scherge, Matthias; Ahmed, S. I.; Mollenhauer, Olaf; Spiller, Frank
Mikrotribology : detection of forces in the micronewton range. - In: Sensoren und Meßsysteme 2000, (2000), S. 279-286

Schnittler, Christoph; Kirpal, Alfred
Die Macht des Geistes ... : Universitäten in der Wissensgesellschaft. - In: Ilmenauer Uni-Nachrichten, Bd. 43 (2000), 3, S. 22-23

Grille, Harmut; Schnittler, Christoph; Schnittler, Christoph *1936-*; Bechstedt, Friedhelm;
Phonons in group-III nitride mixed crystals. - In: Compound semiconductors 1999, (2000), S. 499-502

Grille, Hartmut; Schnittler, Christoph; Schnittler, Christoph *1936-*; Bechstedt, Friedhelm;
Phonons in ternary group-III nitride alloys. - In: Physical review, ISSN 1550-235X, Bd. 61 (2000), 9, S. 6091-6105

http://dx.doi.org/10.1103/PhysRevB.61.6091
Talalaev, V. G.; Novikov, B. V.; Verbin, S. Yu.; Novikov, A. B.; Thath, Dinh Son; Shchur, I. V.; Gobsch, Gerhard; Goldhahn, Rüdiger; Stein, Norbert; Golombek, A.
Recombination emission from InAs quantum dots grown on vicinal GaAs surfaces. - In: Semiconductors, ISSN 1090-6479, Bd. 34 (2000), 4, S. 453-461

http://dx.doi.org/10.1134/1.1188007
Goldhahn, Rüdiger; Shokhovets, Sviatoslav; Scheiner, Jörg; Gobsch, Gerhard; Cheng, T. S.; Foxon, C. Thomas; Kaiser, U.; Kipshidze, G. D.; Richter, W.
Determination of group III nitride film properties by reflectance and spectroscopic ellipsometry studies. - In: Physica status solidi, ISSN 1862-6319, Bd. 177 (2000), 1, S. 107-115

http://dx.doi.org/10.1002/(SICI)1521-396X(200001)177:1<107::AID-PSSA107>3.0.CO;2-8
As, Donat J.; Frey, T.; Schikora, D.; Lischka, Klaus; Cimalla, Volker; Pezoldt, Jörg; Goldhahn, Rüdiger; Kaiser, S.; Gebhardt, W.
Cubic GaN epilayers grown by molecular beam epitaxy on thin beta-SiC/Si (001) substrates. - In: Applied physics letters, ISSN 1077-3118, Bd. 76 (2000), 13, S. 1686-1688

http://dx.doi.org/10.1063/1.126136