Shokhovets, Sviatoslav; Goldhahn, Rüdiger; Cheng, T. S.; Foxon, C. Thomas
Optical study of the [alpha]-GaN/GaAs interface properties as a function of MBE growth conditions. - In: Semiconductor science and technology, ISSN 1361-6641, Bd. 14 (1999), 2, S. 181-186
http://dx.doi.org/10.1088/0268-1242/14/2/013
Optical study of the [alpha]-GaN/GaAs interface properties as a function of MBE growth conditions. - In: Semiconductor science and technology, ISSN 1361-6641, Bd. 14 (1999), 2, S. 181-186
http://dx.doi.org/10.1088/0268-1242/14/2/013
Goldhahn, Rüdiger; Scheiner, Jörg; Shokhovets, Sviatoslav; Frey, T.; Köhler, U.; As, Donat J.; Lischka, Klaus
Determination of optical constants for cubic In x Ga 1-x N layers. - In: Physica status solidi, ISSN 1521-3951, Bd. 216 (1999), 1, S. 265-268
http://dx.doi.org/10.1002/(SICI)1521-3951(199911)216:1<265::AID-PSSB265>3.0.CO;2-K
Determination of optical constants for cubic In x Ga 1-x N layers. - In: Physica status solidi, ISSN 1521-3951, Bd. 216 (1999), 1, S. 265-268
http://dx.doi.org/10.1002/(SICI)1521-3951(199911)216:1<265::AID-PSSB265>3.0.CO;2-K
Žochovec, Svjatoslav; Goldhahn, Rüdiger; Gobsch, Gerhard; Cheng, T. S.; Foxon, Tom; Kipshidze, G. D.; Richter, Wo.
Reflectivity investigations as a method for characterizing group III nitride films. - In: Journal of applied physics, ISSN 1089-7550, Bd. 86 (1999), 5, S. 2602-2610
https://doi.org/10.1063/1.371098
Reflectivity investigations as a method for characterizing group III nitride films. - In: Journal of applied physics, ISSN 1089-7550, Bd. 86 (1999), 5, S. 2602-2610
https://doi.org/10.1063/1.371098
Puta, Horst; Gobsch, Gerhard; Schellenberger, Ulrich; Feldmann, H.; Bürger, H.-D.; Schulze, Dirk
Solarthermische Systeme mit hohem Wirkungsgrad und hohem Speichervermögen durch umfassende Nutzung der Vakuumisolation (VakuSol). - In: [Vortragsreihen, (1999), S. 535-538
Solarthermische Systeme mit hohem Wirkungsgrad und hohem Speichervermögen durch umfassende Nutzung der Vakuumisolation (VakuSol). - In: [Vortragsreihen, (1999), S. 535-538
Gobsch, Gerhard; Puta, Horst; Schulze, Dirk
Thüringer Forschungsschwerpunkt Solartechnik an der TU Ilmenau. - In: [Vortragsreihen, (1999), S. 531-534
Thüringer Forschungsschwerpunkt Solartechnik an der TU Ilmenau. - In: [Vortragsreihen, (1999), S. 531-534
Schulze, Dirk; Gobsch, Gerhard
Versuchsanlage zur Charakterisierung solarthermischer Komponenten und Systeme. - In: [Vortragsreihen, (1999), S. 487-492
Versuchsanlage zur Charakterisierung solarthermischer Komponenten und Systeme. - In: [Vortragsreihen, (1999), S. 487-492
Dmitruk, Nicola L.; Mayeva, Olga I.; Yastrubshak, Oksana B.; Mamykin, Sergiy V.; Klopfleisch, Manfred
Multilayer gratings : characterization and application. - In: 44. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium, (1999), insges. 6 S.
Multilayer gratings : characterization and application. - In: 44. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium, (1999), insges. 6 S.
Balster, Torsten; Polyakov, Vladimir M.; Tautz, Frank Stefan; Ibach, Harald; Schäfer, Jürgen A.
Collective surface excitations in 3C-SiC(100). - In: Silicon carbide, III-nitrides and related materials, (1998), S. 347-350
Collective surface excitations in 3C-SiC(100). - In: Silicon carbide, III-nitrides and related materials, (1998), S. 347-350
Scherge, Matthias; Schäfer, Jürgen A.
Liquid- and solid-like sliding as a function of water layer thickness. - In: Polymer preprints, ISSN 0032-3934, Bd. 39 (1998), 2, S. 1197-1198
Liquid- and solid-like sliding as a function of water layer thickness. - In: Polymer preprints, ISSN 0032-3934, Bd. 39 (1998), 2, S. 1197-1198
Scherge, Matthias; Schäfer, Jürgen A.
Surface modification and mechanical properties of bulk silicon. - In: Tribology issues and opportunities in MEMS, (1998), S. 529-537
Surface modification and mechanical properties of bulk silicon. - In: Tribology issues and opportunities in MEMS, (1998), S. 529-537